Оценщик Коэффициент смещения подложки использует Substrate Bias Coefficient = sqrt(2*[Charge-e]*[Permitivity-silicon]*Легирующая концентрация акцептора)/Оксидная емкость для оценки Коэффициент смещения подложки, Формула коэффициента смещения подложки определяется как параметр, используемый при моделировании устройств на полевых транзисторах металл-оксид-полупроводник (MOSFET). Коэффициент смещения подложки обозначается символом γs.
Как оценить Коэффициент смещения подложки с помощью этого онлайн-оценщика? Чтобы использовать этот онлайн-оценщик для Коэффициент смещения подложки, введите Легирующая концентрация акцептора (NA) & Оксидная емкость (Cox) и нажмите кнопку расчета.