Fórmula Parâmetro do Processo de Fabricação do NMOS

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O parâmetro do processo de fabricação é o processo que se inicia com a oxidação do substrato de silício no qual uma camada de óxido relativamente espessa é depositada na superfície. Verifique FAQs
γ=2[Charge-e]NP[Permitivity-vacuum]Cox
γ - Parâmetro do Processo de Fabricação?NP - Concentração de Dopagem do Substrato P?Cox - Capacitância de Óxido?[Charge-e] - Carga do elétron?[Permitivity-vacuum] - Permissividade do vácuo?

Exemplo de Parâmetro do Processo de Fabricação do NMOS

Com valores
Com unidades
Apenas exemplo

Esta é a aparência da equação Parâmetro do Processo de Fabricação do NMOS com valores.

Esta é a aparência da equação Parâmetro do Processo de Fabricação do NMOS com unidades.

Esta é a aparência da equação Parâmetro do Processo de Fabricação do NMOS.

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Parâmetro do Processo de Fabricação do NMOS Solução

Siga nossa solução passo a passo sobre como calcular Parâmetro do Processo de Fabricação do NMOS?

Primeiro passo Considere a fórmula
γ=2[Charge-e]NP[Permitivity-vacuum]Cox
Próxima Etapa Substituir valores de variáveis
γ=2[Charge-e]6E+161/cm³[Permitivity-vacuum]2.02μF
Próxima Etapa Valores substitutos de constantes
γ=21.6E-19C6E+161/cm³8.9E-12F/m2.02μF
Próxima Etapa Converter unidades
γ=21.6E-19C6E+221/m³8.9E-12F/m2E-6F
Próxima Etapa Prepare-se para avaliar
γ=21.6E-196E+228.9E-122E-6
Próxima Etapa Avalie
γ=204.204864690003
Último passo Resposta de arredondamento
γ=204.2049

Parâmetro do Processo de Fabricação do NMOS Fórmula Elementos

Variáveis
Constantes
Funções
Parâmetro do Processo de Fabricação
O parâmetro do processo de fabricação é o processo que se inicia com a oxidação do substrato de silício no qual uma camada de óxido relativamente espessa é depositada na superfície.
Símbolo: γ
Medição: NAUnidade: Unitless
Observação: O valor pode ser positivo ou negativo.
Concentração de Dopagem do Substrato P
A concentração de dopagem do substrato P é o número de impurezas adicionadas ao substrato. É a concentração total de íons aceitadores.
Símbolo: NP
Medição: Concentração de PortadoresUnidade: 1/cm³
Observação: O valor pode ser positivo ou negativo.
Capacitância de Óxido
A capacitância de óxido é um parâmetro importante que afeta o desempenho de dispositivos MOS, como a velocidade e o consumo de energia de circuitos integrados.
Símbolo: Cox
Medição: CapacitânciaUnidade: μF
Observação: O valor pode ser positivo ou negativo.
Carga do elétron
A carga do elétron é uma constante física fundamental, representando a carga elétrica transportada por um elétron, que é a partícula elementar com carga elétrica negativa.
Símbolo: [Charge-e]
Valor: 1.60217662E-19 C
Permissividade do vácuo
A permissividade do vácuo é uma constante física fundamental que descreve a capacidade do vácuo de permitir a transmissão de linhas de campo elétrico.
Símbolo: [Permitivity-vacuum]
Valor: 8.85E-12 F/m
sqrt
Uma função de raiz quadrada é uma função que recebe um número não negativo como entrada e retorna a raiz quadrada do número de entrada fornecido.
Sintaxe: sqrt(Number)

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Como avaliar Parâmetro do Processo de Fabricação do NMOS?

O avaliador Parâmetro do Processo de Fabricação do NMOS usa Fabrication Process Parameter = sqrt(2*[Charge-e]*Concentração de Dopagem do Substrato P*[Permitivity-vacuum])/Capacitância de Óxido para avaliar Parâmetro do Processo de Fabricação, O parâmetro do processo de fabricação de NMOS é o processo que começa com a oxidação do substrato de silício no qual uma camada de óxido relativamente espessa é depositada na superfície. Parâmetro do Processo de Fabricação é denotado pelo símbolo γ.

Como avaliar Parâmetro do Processo de Fabricação do NMOS usando este avaliador online? Para usar este avaliador online para Parâmetro do Processo de Fabricação do NMOS, insira Concentração de Dopagem do Substrato P (NP) & Capacitância de Óxido (Cox) e clique no botão calcular.

FAQs sobre Parâmetro do Processo de Fabricação do NMOS

Qual é a fórmula para encontrar Parâmetro do Processo de Fabricação do NMOS?
A fórmula de Parâmetro do Processo de Fabricação do NMOS é expressa como Fabrication Process Parameter = sqrt(2*[Charge-e]*Concentração de Dopagem do Substrato P*[Permitivity-vacuum])/Capacitância de Óxido. Aqui está um exemplo: 204.2049 = sqrt(2*[Charge-e]*6E+22*[Permitivity-vacuum])/2.02E-06.
Como calcular Parâmetro do Processo de Fabricação do NMOS?
Com Concentração de Dopagem do Substrato P (NP) & Capacitância de Óxido (Cox) podemos encontrar Parâmetro do Processo de Fabricação do NMOS usando a fórmula - Fabrication Process Parameter = sqrt(2*[Charge-e]*Concentração de Dopagem do Substrato P*[Permitivity-vacuum])/Capacitância de Óxido. Esta fórmula também usa funções Carga do elétron, Permissividade do vácuo constante(s) e Função Raiz Quadrada.
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