Substraat bias-coëfficiënt Formule

Fx Kopiëren
LaTeX Kopiëren
Substrate Bias Coefficient is een parameter die wordt gebruikt bij het modelleren van MOSFET-apparaten (Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor). Controleer FAQs
γs=2[Charge-e][Permitivity-silicon]NACox
γs - Substraat bias-coëfficiënt?NA - Dopingconcentratie van acceptor?Cox - Oxidecapaciteit?[Charge-e] - Lading van elektron?[Permitivity-silicon] - Permittiviteit van silicium?

Substraat bias-coëfficiënt Voorbeeld

Met waarden
Met eenheden
Slechts voorbeeld

Hier ziet u hoe de Substraat bias-coëfficiënt-vergelijking eruit ziet als met waarden.

Hier ziet u hoe de Substraat bias-coëfficiënt-vergelijking eruit ziet als met eenheden.

Hier ziet u hoe de Substraat bias-coëfficiënt-vergelijking eruit ziet als.

5.7E-7Edit=21.6E-1911.71.32Edit3.9Edit
Kopiëren
resetten
Deel
Je bent hier -
HomeIcon Thuis » Category Engineering » Category Elektronica » Category Analoge elektronica » fx Substraat bias-coëfficiënt

Substraat bias-coëfficiënt Oplossing

Volg onze stapsgewijze oplossing voor het berekenen van Substraat bias-coëfficiënt?

Eerste stap Overweeg de formule
γs=2[Charge-e][Permitivity-silicon]NACox
Volgende stap Vervang waarden van variabelen
γs=2[Charge-e][Permitivity-silicon]1.32electrons/cm³3.9F
Volgende stap Vervang de waarden van constanten
γs=21.6E-19C11.71.32electrons/cm³3.9F
Volgende stap Eenheden converteren
γs=21.6E-19C11.71.3E+6electrons/m³3.9F
Volgende stap Bereid je voor om te evalueren
γs=21.6E-1911.71.3E+63.9
Volgende stap Evalueer
γs=5.70407834987726E-07
Laatste stap Afrondingsantwoord
γs=5.7E-7

Substraat bias-coëfficiënt Formule Elementen

Variabelen
Constanten
Functies
Substraat bias-coëfficiënt
Substrate Bias Coefficient is een parameter die wordt gebruikt bij het modelleren van MOSFET-apparaten (Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor).
Symbool: γs
Meting: NAEenheid: Unitless
Opmerking: De waarde moet groter zijn dan 0.
Dopingconcentratie van acceptor
Dopingconcentratie van acceptor verwijst naar de concentratie van acceptoratomen die opzettelijk aan een halfgeleidermateriaal zijn toegevoegd.
Symbool: NA
Meting: ElektronendichtheidEenheid: electrons/cm³
Opmerking: De waarde moet groter zijn dan 0.
Oxidecapaciteit
Oxidecapaciteit verwijst naar de capaciteit die is geassocieerd met de isolerende oxidelaag in een metaaloxide-halfgeleiderstructuur (MOS), zoals in MOSFET's.
Symbool: Cox
Meting: CapaciteitEenheid: F
Opmerking: De waarde moet groter zijn dan 0.
Lading van elektron
De lading van een elektron is een fundamentele fysische constante, die de elektrische lading vertegenwoordigt die wordt gedragen door een elektron, het elementaire deeltje met een negatieve elektrische lading.
Symbool: [Charge-e]
Waarde: 1.60217662E-19 C
Permittiviteit van silicium
De permittiviteit van silicium meet het vermogen ervan om elektrische energie op te slaan in een elektrisch veld, wat essentieel is in de halfgeleidertechnologie.
Symbool: [Permitivity-silicon]
Waarde: 11.7
sqrt
Een vierkantswortelfunctie is een functie die een niet-negatief getal als invoer neemt en de vierkantswortel van het opgegeven invoergetal retourneert.
Syntaxis: sqrt(Number)

Andere formules in de categorie MOS-transistor

​Gan Nul bias zijwandverbindingscapaciteit per lengte-eenheid
Cjsw=Cj0swxj
​Gan Equivalente grote signaalverbindingscapaciteit
Ceq(sw)=PCjswKeq(sw)
​Gan Fermi-potentieel voor P-type
ΦFp=[BoltZ]Ta[Charge-e]ln(niNA)
​Gan Equivalentiefactor voor zijwandspanning
Keq(sw)=-(2ΦoswV2-V1(Φosw-V2-Φosw-V1))

Hoe Substraat bias-coëfficiënt evalueren?

De beoordelaar van Substraat bias-coëfficiënt gebruikt Substrate Bias Coefficient = sqrt(2*[Charge-e]*[Permitivity-silicon]*Dopingconcentratie van acceptor)/Oxidecapaciteit om de Substraat bias-coëfficiënt, De Substrate Bias Coefficient-formule wordt gedefinieerd als een parameter die wordt gebruikt bij het modelleren van MOSFET-apparaten (Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor), te evalueren. Substraat bias-coëfficiënt wordt aangegeven met het symbool γs.

Hoe kan ik Substraat bias-coëfficiënt evalueren met behulp van deze online beoordelaar? Om deze online evaluator voor Substraat bias-coëfficiënt te gebruiken, voert u Dopingconcentratie van acceptor (NA) & Oxidecapaciteit (Cox) in en klikt u op de knop Berekenen.

FAQs op Substraat bias-coëfficiënt

Wat is de formule om Substraat bias-coëfficiënt te vinden?
De formule van Substraat bias-coëfficiënt wordt uitgedrukt als Substrate Bias Coefficient = sqrt(2*[Charge-e]*[Permitivity-silicon]*Dopingconcentratie van acceptor)/Oxidecapaciteit. Hier is een voorbeeld: 5.7E-7 = sqrt(2*[Charge-e]*[Permitivity-silicon]*1320000)/3.9.
Hoe bereken je Substraat bias-coëfficiënt?
Met Dopingconcentratie van acceptor (NA) & Oxidecapaciteit (Cox) kunnen we Substraat bias-coëfficiënt vinden met behulp van de formule - Substrate Bias Coefficient = sqrt(2*[Charge-e]*[Permitivity-silicon]*Dopingconcentratie van acceptor)/Oxidecapaciteit. Deze formule gebruikt ook de functie(s) van Lading van elektron, Permittiviteit van silicium constante(n) en Vierkantswortel (sqrt).
Copied!