FormulaDen.com

Fysica Chemie Wiskunde Chemische technologie Civiel Elektrisch Elektronica Elektronica en instrumentatie Materiaal kunde Mechanisch Productie Engineering Financieel Gezondheid

Diepte van focus Formule

Fx Kopiëren

LaTeX Kopiëren

Depth of Focus is een kritische parameter die de tolerantie voor variaties in de hoogte van de halfgeleiderwafel beïnvloedt. Controleer FAQs

DOF = k 2 \cdot \frac{λ l}{{NA}^{2}}

DOF - Diepte van focus?k₂ - Evenredigheidsfactor?λ_l - Golflengte in fotolithografie?NA - Numeriek diafragma?

Diepte van focus Voorbeeld

Met waarden

Met eenheden

Slechts voorbeeld

Hier ziet u hoe de Diepte van focus-vergelijking eruit ziet als met waarden.

Hier ziet u hoe de Diepte van focus-vergelijking eruit ziet als met eenheden.

Hier ziet u hoe de Diepte van focus-vergelijking eruit ziet als.

1.3013 = 3 \cdot \frac{223}{{0.717}^{2}}

1.3013μm = 3 \cdot \frac{223nm}{{0.717}^{2}}

1.3013 = 3 \cdot \frac{223}{{0.717}^{2}}

Tip: Gebruik het potloodpictogram ( Pencil

) hierboven om invoerwaarden en eenheden te bewerken.

Berekenen

Herbereken

Oplossing

Kopiëren

resetten

Deel

Je bent hier -

Thuis » Category

Engineering » Category

Elektronica » Category

Geïntegreerde schakelingen (IC) » fx Diepte van focus

Diepte van focus Oplossing

Volg onze stapsgewijze oplossing voor het berekenen van Diepte van focus?

Eerste stap Overweeg de formule

DOF = k 2 \cdot \frac{λ l}{{NA}^{2}}

Volgende stap Vervang waarden van variabelen

∴

DOF = 3 \cdot \frac{223nm}{{0.717}^{2}}

Volgende stap Eenheden converteren

∴

DOF = 3 \cdot \frac{2.2E-7m}{{0.717}^{2}}

Volgende stap Bereid je voor om te evalueren

∴

DOF = 3 \cdot \frac{2.2E-7}{{0.717}^{2}}

Volgende stap Evalueer

∴

DOF = 1.30133109247621E-06m

Volgende stap Converteren naar de eenheid van uitvoer

∴

DOF = 1.30133109247621μm

Laatste stap Afrondingsantwoord

∴

DOF = 1.3013μm

Diepte van focus Formule Elementen

Variabelen

Diepte van focus

Depth of Focus is een kritische parameter die de tolerantie voor variaties in de hoogte van de halfgeleiderwafel beïnvloedt.

Symbool: DOF

Meting: GolflengteEenheid: μm

Opmerking: De waarde moet groter zijn dan 0.

Formules om Diepte van focus te vinden

Evenredigheidsfactor

Proportionaliteitsfactor is een constante die twee sleutelparameters met elkaar in verband brengt: de kritische dimensie (CD) en de blootstellingsdosis.

Symbool: k₂

Meting: NAEenheid: Unitless

Opmerking: De waarde moet groter zijn dan 0.

Formules om Evenredigheidsfactor te vinden

Golflengte in fotolithografie

Golflengte in fotolithografie verwijst naar het specifieke bereik van elektromagnetische straling dat wordt gebruikt om halfgeleiderwafels te patrooneren tijdens het fabricageproces van halfgeleiders.

Symbool: λ_l

Meting: GolflengteEenheid: nm

Opmerking: De waarde moet groter zijn dan 0.

Formules om Golflengte in fotolithografie te vinden

Numeriek diafragma

Numerieke opening van een optisch systeem is een parameter die in de optica wordt gebruikt om het vermogen van een optisch systeem te beschrijven. In de context van halfgeleiderproductie en fotolithografie.

Symbool: NA

Meting: NAEenheid: Unitless

Opmerking: De waarde moet groter zijn dan 0.

Formules om Numeriek diafragma te vinden

Andere formules in de categorie MOS IC-fabricage

Gan Lichaamseffect in MOSFET

V t = V th + γ \cdot (\sqrt{2 \cdot Φ f + V bs} - \sqrt{2 \cdot Φ f})

Gan MOSFET eenheidsversterkingsfrequentie

f t = \frac{g m}{C gs + C gd}

Gan Afvoerstroom van MOSFET in het verzadigingsgebied

I d = \frac{β}{2} \cdot {(V gs - V th)}^{2} \cdot (1 + λ i \cdot V ds)

Gan Kanaal weerstand

R ch = \frac{L t}{W t} \cdot \frac{1}{μ n \cdot Q on}

Bekijk meer OpenImg

Hoe Diepte van focus evalueren?

De beoordelaar van Diepte van focus gebruikt Depth of Focus = Evenredigheidsfactor*Golflengte in fotolithografie/(Numeriek diafragma^2) om de Diepte van focus, De scherptediepte wordt gedefinieerd als een kritische parameter die de tolerantie voor variaties in de hoogte van de halfgeleiderwafel beïnvloedt. Het is het bereik van afstanden voor en achter het brandpuntsvlak waarop objecten in een afbeelding voldoende scherp lijken, te evalueren. Diepte van focus wordt aangegeven met het symbool DOF.

Hoe kan ik Diepte van focus evalueren met behulp van deze online beoordelaar? Om deze online evaluator voor Diepte van focus te gebruiken, voert u Evenredigheidsfactor (k₂), Golflengte in fotolithografie (λ_l) & Numeriek diafragma (NA) in en klikt u op de knop Berekenen.

FAQs op Diepte van focus

Wat is de formule om Diepte van focus te vinden?

De formule van Diepte van focus wordt uitgedrukt als Depth of Focus = Evenredigheidsfactor*Golflengte in fotolithografie/(Numeriek diafragma^2). Hier is een voorbeeld: 1.3E+12 = 3*2.23E-07/(0.717^2).

Hoe bereken je Diepte van focus?

Met Evenredigheidsfactor (k₂), Golflengte in fotolithografie (λ_l) & Numeriek diafragma (NA) kunnen we Diepte van focus vinden met behulp van de formule - Depth of Focus = Evenredigheidsfactor*Golflengte in fotolithografie/(Numeriek diafragma^2).

Kan de Diepte van focus negatief zijn?

Nee, de Diepte van focus, gemeten in Golflengte kan niet moet negatief zijn.

Welke eenheid wordt gebruikt om Diepte van focus te meten?

Diepte van focus wordt meestal gemeten met de Micrometer[μm] voor Golflengte. Meter[μm], Megameter[μm], Kilometer[μm] zijn de weinige andere eenheden waarin Diepte van focus kan worden gemeten.

Let Others Know

✖

Facebook

Twitter

Copied!

: Waarde
: Eenheid

Diepte van focus Formule

Diepte van focus Voorbeeld

Diepte van focus Oplossing

Diepte van focus Formule Elementen

Andere formules in de categorie MOS IC-fabricage

Hoe Diepte van focus evalueren?

FAQs op Diepte van focus

Variable Name