Riduzione della tensione di soglia a canale corto
La riduzione della tensione di soglia a canale corto è definita come una riduzione della tensione di soglia del MOSFET dovuta all'effetto del canale corto.
Simbolo: ΔVT0
Misurazione: Potenziale elettricoUnità: V
Nota: Il valore deve essere maggiore di 0.
Concentrazione dell'accettore
La concentrazione dell'accettore si riferisce alla concentrazione degli atomi droganti dell'accettore in un materiale semiconduttore.
Simbolo: NA
Misurazione: Concentrazione del portatoreUnità: 1/cm³
Nota: Il valore deve essere maggiore di 0.
Potenziale di superficie
Il potenziale superficiale è un parametro chiave nella valutazione delle proprietà CC dei transistor a film sottile.
Simbolo: Φs
Misurazione: Potenziale elettricoUnità: V
Nota: Il valore deve essere maggiore di 0.
Profondità di giunzione
La profondità di giunzione è definita come la distanza dalla superficie di un materiale semiconduttore al punto in cui si verifica un cambiamento significativo nella concentrazione degli atomi droganti.
Simbolo: xj
Misurazione: LunghezzaUnità: μm
Nota: Il valore deve essere maggiore di 0.
Capacità di ossido per unità di area
La capacità di ossido per unità di area è definita come la capacità per unità di area dello strato di ossido isolante che separa il gate metallico dal materiale semiconduttore.
Simbolo: Coxide
Misurazione: Capacità di ossido per area unitariaUnità: μF/cm²
Nota: Il valore deve essere maggiore di 0.
Lunghezza del canale
La lunghezza del canale si riferisce alla lunghezza fisica del materiale semiconduttore tra i terminali di source e drain all'interno della struttura del transistor.
Simbolo: L
Misurazione: LunghezzaUnità: μm
Nota: Il valore deve essere maggiore di 0.
Profondità di svuotamento della giunzione Pn con sorgente
La profondità di esaurimento della giunzione Pn con sorgente è definita come la regione attorno a una giunzione pn in cui i portatori di carica sono stati esauriti a causa della formazione di un campo elettrico.
Simbolo: xdS
Misurazione: LunghezzaUnità: μm
Nota: Il valore deve essere maggiore di 0.
Profondità di svuotamento della giunzione Pn con drenaggio
La profondità di svuotamento della giunzione Pn con drenaggio è definita come l'estensione della regione di svuotamento nel materiale semiconduttore vicino al terminale di drenaggio.
Simbolo: xdD
Misurazione: LunghezzaUnità: μm
Nota: Il valore deve essere maggiore di 0.
Carica dell'elettrone
La carica dell'elettrone è una costante fisica fondamentale, che rappresenta la carica elettrica trasportata da un elettrone, che è la particella elementare con una carica elettrica negativa.
Simbolo: [Charge-e]
Valore: 1.60217662E-19 C
Permittività del silicio
La permettività del silicio misura la sua capacità di immagazzinare energia elettrica in un campo elettrico, fondamentale nella tecnologia dei semiconduttori.
Simbolo: [Permitivity-silicon]
Valore: 11.7
Permittività del vuoto
La permettività del vuoto è una costante fisica fondamentale che descrive la capacità del vuoto di consentire la trasmissione delle linee del campo elettrico.
Simbolo: [Permitivity-vacuum]
Valore: 8.85E-12 F/m