Formule Tension de seuil supplémentaire à canal étroit VLSI

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La tension de seuil supplémentaire à canal étroit est définie comme une contribution supplémentaire à la tension de seuil due aux effets de canal étroit dans le MOSFET. Vérifiez FAQs
ΔVT0(nc)=(kxdmWcCoxide)(2[Charge-e]NA[Permitivity-vacuum][Permitivity-silicon]|2Φs|)
ΔVT0(nc) - Tension de seuil supplémentaire à canal étroit?k - Paramètre empirique?xdm - Épuisement global dans l'étendue verticale dans le substrat?Wc - Largeur de canal?Coxide - Capacité d'oxyde par unité de surface?NA - Concentration d'accepteur?Φs - Potentiel des surfaces?[Charge-e] - Charge d'électron?[Permitivity-vacuum] - Permittivité du vide?[Permitivity-silicon] - Permittivité du silicium?

Exemple Tension de seuil supplémentaire à canal étroit VLSI

Avec des valeurs
Avec unités
Seul exemple

Voici à quoi ressemble l'équation Tension de seuil supplémentaire à canal étroit VLSI avec des valeurs.

Voici à quoi ressemble l'équation Tension de seuil supplémentaire à canal étroit VLSI avec unités.

Voici à quoi ressemble l'équation Tension de seuil supplémentaire à canal étroit VLSI.

2.3825Edit=(1.57Edit1.25Edit2.5Edit0.0703Edit)(21.6E-191E+16Edit8.9E-1211.7|26.86Edit|)
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Tension de seuil supplémentaire à canal étroit VLSI Solution

Suivez notre solution étape par étape pour savoir comment calculer Tension de seuil supplémentaire à canal étroit VLSI ?

Premier pas Considérez la formule
ΔVT0(nc)=(kxdmWcCoxide)(2[Charge-e]NA[Permitivity-vacuum][Permitivity-silicon]|2Φs|)
L'étape suivante Valeurs de remplacement des variables
ΔVT0(nc)=(1.571.25μm2.5μm0.0703μF/cm²)(2[Charge-e]1E+161/cm³[Permitivity-vacuum][Permitivity-silicon]|26.86V|)
L'étape suivante Valeurs de remplacement des constantes
ΔVT0(nc)=(1.571.25μm2.5μm0.0703μF/cm²)(21.6E-19C1E+161/cm³8.9E-12F/m11.7|26.86V|)
L'étape suivante Convertir des unités
ΔVT0(nc)=(1.571.3E-6m2.5E-6m0.0007F/m²)(21.6E-19C1E+221/m³8.9E-12F/m11.7|26.86V|)
L'étape suivante Préparez-vous à évaluer
ΔVT0(nc)=(1.571.3E-62.5E-60.0007)(21.6E-191E+228.9E-1211.7|26.86|)
L'étape suivante Évaluer
ΔVT0(nc)=2.38246289976913V
Dernière étape Réponse arrondie
ΔVT0(nc)=2.3825V

Tension de seuil supplémentaire à canal étroit VLSI Formule Éléments

Variables
Constantes
Les fonctions
Tension de seuil supplémentaire à canal étroit
La tension de seuil supplémentaire à canal étroit est définie comme une contribution supplémentaire à la tension de seuil due aux effets de canal étroit dans le MOSFET.
Symbole: ΔVT0(nc)
La mesure: Potentiel électriqueUnité: V
Note: La valeur doit être supérieure à 0.
Paramètre empirique
Un paramètre empirique est une constante ou une valeur utilisée dans un modèle, une équation ou une théorie qui est dérivée de l'expérience et de l'observation plutôt que déduite théoriquement.
Symbole: k
La mesure: NAUnité: Unitless
Note: La valeur doit être supérieure à 0.
Épuisement global dans l'étendue verticale dans le substrat
L'épuisement global dans l'étendue verticale dans le substrat fait référence à la profondeur de la région d'épuisement dans le substrat (en vrac) du MOSFET.
Symbole: xdm
La mesure: LongueurUnité: μm
Note: La valeur doit être supérieure à 0.
Largeur de canal
La largeur du canal est définie comme la largeur physique du canal semi-conducteur entre les bornes source et drain au sein de la structure du transistor.
Symbole: Wc
La mesure: LongueurUnité: μm
Note: La valeur doit être supérieure à 0.
Capacité d'oxyde par unité de surface
La capacité d'oxyde par unité de surface est définie comme la capacité par unité de surface de la couche d'oxyde isolante qui sépare la grille métallique du matériau semi-conducteur.
Symbole: Coxide
La mesure: Capacité d'oxyde par unité de surfaceUnité: μF/cm²
Note: La valeur doit être supérieure à 0.
Concentration d'accepteur
La concentration d'accepteur fait référence à la concentration d'atomes de dopant accepteur dans un matériau semi-conducteur.
Symbole: NA
La mesure: Concentration de transporteurUnité: 1/cm³
Note: La valeur doit être supérieure à 0.
Potentiel des surfaces
Le potentiel de surface est un paramètre clé dans l’évaluation de la propriété DC des transistors à couches minces.
Symbole: Φs
La mesure: Potentiel électriqueUnité: V
Note: La valeur doit être supérieure à 0.
Charge d'électron
La charge de l’électron est une constante physique fondamentale, représentant la charge électrique portée par un électron, qui est la particule élémentaire dotée d’une charge électrique négative.
Symbole: [Charge-e]
Valeur: 1.60217662E-19 C
Permittivité du vide
La permittivité du vide est une constante physique fondamentale qui décrit la capacité du vide à permettre la transmission de lignes de champ électrique.
Symbole: [Permitivity-vacuum]
Valeur: 8.85E-12 F/m
Permittivité du silicium
La permittivité du silicium mesure sa capacité à stocker de l'énergie électrique dans un champ électrique, vitale dans la technologie des semi-conducteurs.
Symbole: [Permitivity-silicon]
Valeur: 11.7
sqrt
Une fonction racine carrée est une fonction qui prend un nombre non négatif comme entrée et renvoie la racine carrée du nombre d'entrée donné.
Syntaxe: sqrt(Number)
abs
La valeur absolue d'un nombre correspond à sa distance par rapport à zéro sur la droite numérique. Il s'agit toujours d'une valeur positive, car elle représente la grandeur d'un nombre sans tenir compte de sa direction.
Syntaxe: abs(Number)

Autres formules dans la catégorie Optimisation des matériaux VLSI

​va Coefficient d'effet corporel
γ=modu̲s(Vt-Vt0Φs+(Vsb)-Φs)
​va Charge de canal
Qch=Cg(Vgc-Vt)

Comment évaluer Tension de seuil supplémentaire à canal étroit VLSI ?

L'évaluateur Tension de seuil supplémentaire à canal étroit VLSI utilise Narrow Channel Additional Threshold Voltage = ((Paramètre empirique*Épuisement global dans l'étendue verticale dans le substrat)/(Largeur de canal*Capacité d'oxyde par unité de surface))*(sqrt(2*[Charge-e]*Concentration d'accepteur*[Permitivity-vacuum]*[Permitivity-silicon]*abs(2*Potentiel des surfaces))) pour évaluer Tension de seuil supplémentaire à canal étroit, La formule VLSI de tension de seuil supplémentaire à canal étroit est définie comme une contribution supplémentaire à la tension de seuil due aux effets de canal étroit dans le MOSFET. Tension de seuil supplémentaire à canal étroit est désigné par le symbole ΔVT0(nc).

Comment évaluer Tension de seuil supplémentaire à canal étroit VLSI à l'aide de cet évaluateur en ligne ? Pour utiliser cet évaluateur en ligne pour Tension de seuil supplémentaire à canal étroit VLSI, saisissez Paramètre empirique (k), Épuisement global dans l'étendue verticale dans le substrat (xdm), Largeur de canal (Wc), Capacité d'oxyde par unité de surface (Coxide), Concentration d'accepteur (NA) & Potentiel des surfaces s) et appuyez sur le bouton Calculer.

FAQs sur Tension de seuil supplémentaire à canal étroit VLSI

Quelle est la formule pour trouver Tension de seuil supplémentaire à canal étroit VLSI ?
La formule de Tension de seuil supplémentaire à canal étroit VLSI est exprimée sous la forme Narrow Channel Additional Threshold Voltage = ((Paramètre empirique*Épuisement global dans l'étendue verticale dans le substrat)/(Largeur de canal*Capacité d'oxyde par unité de surface))*(sqrt(2*[Charge-e]*Concentration d'accepteur*[Permitivity-vacuum]*[Permitivity-silicon]*abs(2*Potentiel des surfaces))). Voici un exemple : 2.382463 = ((1.57*1.25E-06)/(2.5E-06*0.000703))*(sqrt(2*[Charge-e]*1E+22*[Permitivity-vacuum]*[Permitivity-silicon]*abs(2*6.86))).
Comment calculer Tension de seuil supplémentaire à canal étroit VLSI ?
Avec Paramètre empirique (k), Épuisement global dans l'étendue verticale dans le substrat (xdm), Largeur de canal (Wc), Capacité d'oxyde par unité de surface (Coxide), Concentration d'accepteur (NA) & Potentiel des surfaces s), nous pouvons trouver Tension de seuil supplémentaire à canal étroit VLSI en utilisant la formule - Narrow Channel Additional Threshold Voltage = ((Paramètre empirique*Épuisement global dans l'étendue verticale dans le substrat)/(Largeur de canal*Capacité d'oxyde par unité de surface))*(sqrt(2*[Charge-e]*Concentration d'accepteur*[Permitivity-vacuum]*[Permitivity-silicon]*abs(2*Potentiel des surfaces))). Cette formule utilise également les fonctions Charge d'électron, Permittivité du vide, Permittivité du silicium constante(s) et , Racine carrée (sqrt), Absolu (abs).
Le Tension de seuil supplémentaire à canal étroit VLSI peut-il être négatif ?
Non, le Tension de seuil supplémentaire à canal étroit VLSI, mesuré dans Potentiel électrique ne peut pas, doit être négatif.
Quelle unité est utilisée pour mesurer Tension de seuil supplémentaire à canal étroit VLSI ?
Tension de seuil supplémentaire à canal étroit VLSI est généralement mesuré à l'aide de Volt[V] pour Potentiel électrique. millivolt[V], Microvolt[V], Nanovolt[V] sont les quelques autres unités dans lesquelles Tension de seuil supplémentaire à canal étroit VLSI peut être mesuré.
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