Formule Profondeur d'appauvrissement de la jonction PN avec drain VLSI

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La profondeur d'appauvrissement de la jonction Pn avec drain est définie comme l'extension de la région d'appauvrissement dans le matériau semi-conducteur près de la borne de drain. Vérifiez FAQs
xdD=(2[Permitivity-silicon][Permitivity-vacuum][Charge-e]NA)(Ø0+Vds)
xdD - Profondeur d'épuisement de la jonction Pn avec drain?NA - Concentration d'accepteur?Ø0 - Tension intégrée de jonction?Vds - Potentiel de drainage vers la source?[Permitivity-silicon] - Permittivité du silicium?[Permitivity-vacuum] - Permittivité du vide?[Charge-e] - Charge d'électron?

Exemple Profondeur d'appauvrissement de la jonction PN avec drain VLSI

Avec des valeurs
Avec unités
Seul exemple

Voici à quoi ressemble l'équation Profondeur d'appauvrissement de la jonction PN avec drain VLSI avec des valeurs.

Voici à quoi ressemble l'équation Profondeur d'appauvrissement de la jonction PN avec drain VLSI avec unités.

Voici à quoi ressemble l'équation Profondeur d'appauvrissement de la jonction PN avec drain VLSI.

0.5345Edit=(211.78.9E-121.6E-191E+16Edit)(0.76Edit+1.45Edit)
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Profondeur d'appauvrissement de la jonction PN avec drain VLSI Solution

Suivez notre solution étape par étape pour savoir comment calculer Profondeur d'appauvrissement de la jonction PN avec drain VLSI ?

Premier pas Considérez la formule
xdD=(2[Permitivity-silicon][Permitivity-vacuum][Charge-e]NA)(Ø0+Vds)
L'étape suivante Valeurs de remplacement des variables
xdD=(2[Permitivity-silicon][Permitivity-vacuum][Charge-e]1E+161/cm³)(0.76V+1.45V)
L'étape suivante Valeurs de remplacement des constantes
xdD=(211.78.9E-12F/m1.6E-19C1E+161/cm³)(0.76V+1.45V)
L'étape suivante Convertir des unités
xdD=(211.78.9E-12F/m1.6E-19C1E+221/m³)(0.76V+1.45V)
L'étape suivante Préparez-vous à évaluer
xdD=(211.78.9E-121.6E-191E+22)(0.76+1.45)
L'étape suivante Évaluer
xdD=5.34466520692296E-07m
L'étape suivante Convertir en unité de sortie
xdD=0.534466520692296μm
Dernière étape Réponse arrondie
xdD=0.5345μm

Profondeur d'appauvrissement de la jonction PN avec drain VLSI Formule Éléments

Variables
Constantes
Les fonctions
Profondeur d'épuisement de la jonction Pn avec drain
La profondeur d'appauvrissement de la jonction Pn avec drain est définie comme l'extension de la région d'appauvrissement dans le matériau semi-conducteur près de la borne de drain.
Symbole: xdD
La mesure: LongueurUnité: μm
Note: La valeur doit être supérieure à 0.
Concentration d'accepteur
La concentration d'accepteur fait référence à la concentration d'atomes de dopant accepteur dans un matériau semi-conducteur.
Symbole: NA
La mesure: Concentration de transporteurUnité: 1/cm³
Note: La valeur doit être supérieure à 0.
Tension intégrée de jonction
La tension intégrée de jonction est définie comme la tension qui existe aux bornes d’une jonction semi-conductrice en équilibre thermique, où aucune tension externe n’est appliquée.
Symbole: Ø0
La mesure: Potentiel électriqueUnité: V
Note: La valeur doit être supérieure à 0.
Potentiel de drainage vers la source
Le potentiel de drainage vers la source est le potentiel entre le drainage et la source.
Symbole: Vds
La mesure: Potentiel électriqueUnité: V
Note: La valeur doit être supérieure à 0.
Permittivité du silicium
La permittivité du silicium mesure sa capacité à stocker de l'énergie électrique dans un champ électrique, vitale dans la technologie des semi-conducteurs.
Symbole: [Permitivity-silicon]
Valeur: 11.7
Permittivité du vide
La permittivité du vide est une constante physique fondamentale qui décrit la capacité du vide à permettre la transmission de lignes de champ électrique.
Symbole: [Permitivity-vacuum]
Valeur: 8.85E-12 F/m
Charge d'électron
La charge de l’électron est une constante physique fondamentale, représentant la charge électrique portée par un électron, qui est la particule élémentaire dotée d’une charge électrique négative.
Symbole: [Charge-e]
Valeur: 1.60217662E-19 C
sqrt
Une fonction racine carrée est une fonction qui prend un nombre non négatif comme entrée et renvoie la racine carrée du nombre d'entrée donné.
Syntaxe: sqrt(Number)

Autres formules dans la catégorie Optimisation des matériaux VLSI

​va Coefficient d'effet corporel
γ=modu̲s(Vt-Vt0Φs+(Vsb)-Φs)
​va Charge de canal
Qch=Cg(Vgc-Vt)
​va Tension critique
Vx=ExEch
​va Coefficient DIBL
η=Vt0-VtVds

Comment évaluer Profondeur d'appauvrissement de la jonction PN avec drain VLSI ?

L'évaluateur Profondeur d'appauvrissement de la jonction PN avec drain VLSI utilise P-n Junction Depletion Depth with Drain = sqrt(((2*[Permitivity-silicon]*[Permitivity-vacuum])/([Charge-e]*Concentration d'accepteur))*(Tension intégrée de jonction+Potentiel de drainage vers la source)) pour évaluer Profondeur d'épuisement de la jonction Pn avec drain, La formule de profondeur d'appauvrissement de la jonction PN avec drain VLSI est définie comme l'extension de la région d'appauvrissement dans le matériau semi-conducteur près de la borne de drain. Profondeur d'épuisement de la jonction Pn avec drain est désigné par le symbole xdD.

Comment évaluer Profondeur d'appauvrissement de la jonction PN avec drain VLSI à l'aide de cet évaluateur en ligne ? Pour utiliser cet évaluateur en ligne pour Profondeur d'appauvrissement de la jonction PN avec drain VLSI, saisissez Concentration d'accepteur (NA), Tension intégrée de jonction 0) & Potentiel de drainage vers la source (Vds) et appuyez sur le bouton Calculer.

FAQs sur Profondeur d'appauvrissement de la jonction PN avec drain VLSI

Quelle est la formule pour trouver Profondeur d'appauvrissement de la jonction PN avec drain VLSI ?
La formule de Profondeur d'appauvrissement de la jonction PN avec drain VLSI est exprimée sous la forme P-n Junction Depletion Depth with Drain = sqrt(((2*[Permitivity-silicon]*[Permitivity-vacuum])/([Charge-e]*Concentration d'accepteur))*(Tension intégrée de jonction+Potentiel de drainage vers la source)). Voici un exemple : 534466.5 = sqrt(((2*[Permitivity-silicon]*[Permitivity-vacuum])/([Charge-e]*1E+22))*(0.76+1.45)).
Comment calculer Profondeur d'appauvrissement de la jonction PN avec drain VLSI ?
Avec Concentration d'accepteur (NA), Tension intégrée de jonction 0) & Potentiel de drainage vers la source (Vds), nous pouvons trouver Profondeur d'appauvrissement de la jonction PN avec drain VLSI en utilisant la formule - P-n Junction Depletion Depth with Drain = sqrt(((2*[Permitivity-silicon]*[Permitivity-vacuum])/([Charge-e]*Concentration d'accepteur))*(Tension intégrée de jonction+Potentiel de drainage vers la source)). Cette formule utilise également les fonctions Permittivité du silicium, Permittivité du vide, Charge d'électron constante(s) et Racine carrée (sqrt).
Le Profondeur d'appauvrissement de la jonction PN avec drain VLSI peut-il être négatif ?
Non, le Profondeur d'appauvrissement de la jonction PN avec drain VLSI, mesuré dans Longueur ne peut pas, doit être négatif.
Quelle unité est utilisée pour mesurer Profondeur d'appauvrissement de la jonction PN avec drain VLSI ?
Profondeur d'appauvrissement de la jonction PN avec drain VLSI est généralement mesuré à l'aide de Micromètre[μm] pour Longueur. Mètre[μm], Millimètre[μm], Kilomètre[μm] sont les quelques autres unités dans lesquelles Profondeur d'appauvrissement de la jonction PN avec drain VLSI peut être mesuré.
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