Der Sperrschichtkapazität der Fotodiode-Evaluator verwendet Junction Capacitance = Permittivität von Halbleitern*Kreuzungsbereich/Breite der Verarmungsschicht, um Sperrschichtkapazität, Die Sperrschichtkapazität einer Fotodiode ist das Maß für die Fähigkeit der Sperrschicht eines Halbleiterbauelements, beispielsweise einer Diode oder eines Transistors, elektrische Ladung zu speichern. Es entsteht durch die Verarmungszone, die sich innerhalb des Halbleiters aufgrund der unterschiedlichen Ladungsträgerkonzentrationen auf beiden Seiten des Übergangs bildet auszuwerten. Sperrschichtkapazität wird durch das Symbol Cj gekennzeichnet.
Wie wird Sperrschichtkapazität der Fotodiode mit diesem Online-Evaluator ausgewertet? Um diesen Online-Evaluator für Sperrschichtkapazität der Fotodiode zu verwenden, geben Sie Permittivität von Halbleitern (εr), Kreuzungsbereich (Aj) & Breite der Verarmungsschicht (w) ein und klicken Sie auf die Schaltfläche „Berechnen“.