Gate-Source-Kapazität bei gegebener Überlappungskapazität Formel

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Die Gate-Source-Kapazität bezieht sich auf die Kapazität zwischen den Gate- und Source-Anschlüssen eines Feldeffekttransistors (FET). Überprüfen Sie FAQs
Cgs=(23WtLtCox)+(WtCov)
Cgs - Gate-Source-Kapazität?Wt - Breite des Transistors?Lt - Transistorlänge?Cox - Oxidkapazität?Cov - Überlappungskapazität?

Gate-Source-Kapazität bei gegebener Überlappungskapazität Beispiel

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So sieht die Gleichung Gate-Source-Kapazität bei gegebener Überlappungskapazität aus: mit Werten.

So sieht die Gleichung Gate-Source-Kapazität bei gegebener Überlappungskapazität aus: mit Einheiten.

So sieht die Gleichung Gate-Source-Kapazität bei gegebener Überlappungskapazität aus:.

13.75Edit=(235.5Edit3.2Edit3.9Edit)+(5.5Edit2.5Edit)
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Gate-Source-Kapazität bei gegebener Überlappungskapazität Lösung

Folgen Sie unserer Schritt-für-Schritt-Lösung zur Berechnung von Gate-Source-Kapazität bei gegebener Überlappungskapazität?

Erster Schritt Betrachten Sie die Formel
Cgs=(23WtLtCox)+(WtCov)
Nächster Schritt Ersatzwerte von Variablen
Cgs=(235.5μm3.2μm3.9F)+(5.5μm2.5F)
Nächster Schritt Einheiten umrechnen
Cgs=(235.5E-6m3.2E-6m3.9F)+(5.5E-6m2.5F)
Nächster Schritt Bereiten Sie sich auf die Bewertung vor
Cgs=(235.5E-63.2E-63.9)+(5.5E-62.5)
Nächster Schritt Auswerten
Cgs=1.375004576E-05F
Nächster Schritt In Ausgabeeinheit umrechnen
Cgs=13.75004576μF
Letzter Schritt Rundungsantwort
Cgs=13.75μF

Gate-Source-Kapazität bei gegebener Überlappungskapazität Formel Elemente

Variablen
Gate-Source-Kapazität
Die Gate-Source-Kapazität bezieht sich auf die Kapazität zwischen den Gate- und Source-Anschlüssen eines Feldeffekttransistors (FET).
Symbol: Cgs
Messung: KapazitätEinheit: μF
Notiz: Der Wert sollte größer als 0 sein.
Breite des Transistors
Die Transistorbreite bezieht sich auf die Breite des Kanalbereichs in einem MOSFET. Diese Dimension spielt eine entscheidende Rolle bei der Bestimmung der elektrischen Eigenschaften und der Leistung des Transistors.
Symbol: Wt
Messung: LängeEinheit: μm
Notiz: Der Wert sollte größer als 0 sein.
Transistorlänge
Die Transistorlänge bezieht sich auf die Länge des Kanalbereichs in einem MOSFET. Diese Dimension spielt eine entscheidende Rolle bei der Bestimmung der elektrischen Eigenschaften und der Leistung des Transistors.
Symbol: Lt
Messung: LängeEinheit: μm
Notiz: Der Wert sollte größer als 0 sein.
Oxidkapazität
Die Oxidkapazität bezeichnet die Kapazität, die mit der isolierenden Oxidschicht in einer Metall-Oxid-Halbleiterstruktur (MOS) wie beispielsweise in MOSFETs verbunden ist.
Symbol: Cox
Messung: KapazitätEinheit: F
Notiz: Der Wert sollte größer als 0 sein.
Überlappungskapazität
Die Überlappungskapazität ist eine parasitäre Kapazität, die durch die physikalische Überlappung zwischen den Gate- und den Source-/Drain-Bereichen entsteht.
Symbol: Cov
Messung: KapazitätEinheit: F
Notiz: Der Wert sollte größer als 0 sein.

Andere Formeln in der Kategorie Bipolare IC-Herstellung

​ge Verunreinigung mit intrinsischer Konzentration
ni=nepto
​ge Ohmsche Leitfähigkeit von Verunreinigungen
σ=q(μnne+μpp)
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Vce=Vcb(ig)1n
​ge Leitfähigkeit vom N-Typ
σ=q(μnNd+μp(ni2Nd))

Wie wird Gate-Source-Kapazität bei gegebener Überlappungskapazität ausgewertet?

Der Gate-Source-Kapazität bei gegebener Überlappungskapazität-Evaluator verwendet Gate Source Capacitance = (2/3*Breite des Transistors*Transistorlänge*Oxidkapazität)+(Breite des Transistors*Überlappungskapazität), um Gate-Source-Kapazität, Die Formel für die Gate-Source-Kapazität bei gegebener Überlappungskapazität ist definiert als die Kapazität zwischen den Gate- und Source-Anschlüssen auszuwerten. Gate-Source-Kapazität wird durch das Symbol Cgs gekennzeichnet.

Wie wird Gate-Source-Kapazität bei gegebener Überlappungskapazität mit diesem Online-Evaluator ausgewertet? Um diesen Online-Evaluator für Gate-Source-Kapazität bei gegebener Überlappungskapazität zu verwenden, geben Sie Breite des Transistors (Wt), Transistorlänge (Lt), Oxidkapazität (Cox) & Überlappungskapazität (Cov) ein und klicken Sie auf die Schaltfläche „Berechnen“.

FAQs An Gate-Source-Kapazität bei gegebener Überlappungskapazität

Wie lautet die Formel zum Finden von Gate-Source-Kapazität bei gegebener Überlappungskapazität?
Die Formel von Gate-Source-Kapazität bei gegebener Überlappungskapazität wird als Gate Source Capacitance = (2/3*Breite des Transistors*Transistorlänge*Oxidkapazität)+(Breite des Transistors*Überlappungskapazität) ausgedrückt. Hier ist ein Beispiel: 1.4E-5 = (2/3*5.5E-06*3.2E-06*3.9)+(5.5E-06*2.5).
Wie berechnet man Gate-Source-Kapazität bei gegebener Überlappungskapazität?
Mit Breite des Transistors (Wt), Transistorlänge (Lt), Oxidkapazität (Cox) & Überlappungskapazität (Cov) können wir Gate-Source-Kapazität bei gegebener Überlappungskapazität mithilfe der Formel - Gate Source Capacitance = (2/3*Breite des Transistors*Transistorlänge*Oxidkapazität)+(Breite des Transistors*Überlappungskapazität) finden.
Kann Gate-Source-Kapazität bei gegebener Überlappungskapazität negativ sein?
NEIN, der in Kapazität gemessene Gate-Source-Kapazität bei gegebener Überlappungskapazität kann kann nicht negativ sein.
Welche Einheit wird zum Messen von Gate-Source-Kapazität bei gegebener Überlappungskapazität verwendet?
Gate-Source-Kapazität bei gegebener Überlappungskapazität wird normalerweise mit Mikrofarad[μF] für Kapazität gemessen. Farad[μF], Kilofarad[μF], Millifarad[μF] sind die wenigen anderen Einheiten, in denen Gate-Source-Kapazität bei gegebener Überlappungskapazität gemessen werden kann.
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