Der Durchschnittlicher Temperaturanstieg des Chips aufgrund der Sekundärverformung innerhalb der Randbedingungen-Evaluator verwendet Average Temp Rise of Chip in Secondary Shear Zone = Max. Temperatur im Chip in der sekundären Verformungszone/(1.13*sqrt(Thermische Nummer/Länge der Wärmequelle pro Spandicke)), um Durchschnittlicher Temperaturanstieg des Chips in der sekundären Scherzone, Der durchschnittliche Temperaturanstieg des Spans durch sekundäre Verformung innerhalb der Randbedingung wird als der durchschnittliche Temperaturanstieg des Spans in der sekundären Verformungszone innerhalb der Randbedingung definiert auszuwerten. Durchschnittlicher Temperaturanstieg des Chips in der sekundären Scherzone wird durch das Symbol θf gekennzeichnet.
Wie wird Durchschnittlicher Temperaturanstieg des Chips aufgrund der Sekundärverformung innerhalb der Randbedingungen mit diesem Online-Evaluator ausgewertet? Um diesen Online-Evaluator für Durchschnittlicher Temperaturanstieg des Chips aufgrund der Sekundärverformung innerhalb der Randbedingungen zu verwenden, geben Sie Max. Temperatur im Chip in der sekundären Verformungszone (θmax), Thermische Nummer (R) & Länge der Wärmequelle pro Spandicke (l0) ein und klicken Sie auf die Schaltfläche „Berechnen“.