Снижение порогового напряжения короткого канала
Снижение порогового напряжения короткого канала определяется как снижение порогового напряжения MOSFET из-за эффекта короткого канала.
Символ: ΔVT0
Измерение: Электрический потенциалЕдиница: V
Примечание: Значение должно быть больше 0.
Концентрация акцептора
Концентрация акцептора относится к концентрации атомов акцепторной примеси в полупроводниковом материале.
Символ: NA
Измерение: Концентрация носителяЕдиница: 1/cm³
Примечание: Значение должно быть больше 0.
Поверхностный потенциал
Поверхностный потенциал является ключевым параметром при оценке свойств тонкопленочных транзисторов по постоянному току.
Символ: Φs
Измерение: Электрический потенциалЕдиница: V
Примечание: Значение должно быть больше 0.
Глубина соединения
Глубина перехода определяется как расстояние от поверхности полупроводникового материала до точки, где происходит значительное изменение концентрации атомов примеси.
Символ: xj
Измерение: ДлинаЕдиница: μm
Примечание: Значение должно быть больше 0.
Оксидная емкость на единицу площади
Оксидная емкость на единицу площади определяется как емкость на единицу площади изолирующего оксидного слоя, который отделяет металлический затвор от полупроводникового материала.
Символ: Coxide
Измерение: Оксидная емкость на единицу площадиЕдиница: μF/cm²
Примечание: Значение должно быть больше 0.
Длина канала
Длина канала относится к физической длине полупроводникового материала между клеммами истока и стока внутри транзисторной структуры.
Символ: L
Измерение: ДлинаЕдиница: μm
Примечание: Значение должно быть больше 0.
Глубина истощения Pn-перехода с источником
Глубина истощения Pn-перехода с источником определяется как область вокруг pn-перехода, где носители заряда обеднены из-за образования электрического поля.
Символ: xdS
Измерение: ДлинаЕдиница: μm
Примечание: Значение должно быть больше 0.
Глубина истощения Pn-перехода с дренажем
Глубина обеднения Pn-перехода со стоком определяется как расширение области обеднения в полупроводниковый материал вблизи стоковой клеммы.
Символ: xdD
Измерение: ДлинаЕдиница: μm
Примечание: Значение должно быть больше 0.
Заряд электрона
Заряд электрона — это фундаментальная физическая константа, представляющая электрический заряд, переносимый электроном, который является элементарной частицей с отрицательным электрическим зарядом.
Символ: [Charge-e]
Ценить: 1.60217662E-19 C
Диэлектрическая проницаемость кремния
Диэлектрическая проницаемость кремния измеряет его способность хранить электрическую энергию в электрическом поле, что жизненно важно в полупроводниковой технологии.
Символ: [Permitivity-silicon]
Ценить: 11.7
Диэлектрическая проницаемость вакуума
Диэлектрическая проницаемость вакуума — это фундаментальная физическая константа, которая описывает способность вакуума обеспечивать передачу линий электрического поля.
Символ: [Permitivity-vacuum]
Ценить: 8.85E-12 F/m