Оценщик Плотность заряда области массового истощения СБИС использует Bulk Depletion Region Charge Density = -(1-((Боковая протяженность области истощения с источником+Боковая протяженность области истощения с дренажом)/(2*Длина канала)))*sqrt(2*[Charge-e]*[Permitivity-silicon]*[Permitivity-vacuum]*Концентрация акцептора*abs(2*Поверхностный потенциал)) для оценки Плотность заряда области массового истощения, Формула объемной плотности заряда области обеднения VLSI определяется как электрический заряд на единицу площади, связанной с областью обеднения в объеме полупроводникового устройства. Плотность заряда области массового истощения обозначается символом QB0.
Как оценить Плотность заряда области массового истощения СБИС с помощью этого онлайн-оценщика? Чтобы использовать этот онлайн-оценщик для Плотность заряда области массового истощения СБИС, введите Боковая протяженность области истощения с источником (ΔLs), Боковая протяженность области истощения с дренажом (ΔLD), Длина канала (L), Концентрация акцептора (NA) & Поверхностный потенциал (Φs) и нажмите кнопку расчета.