Критическое измерение в Интегральные схемы (ИС) Формулы

Критический размер в производстве полупроводников относится к наименьшему размеру элемента или наименьшему измеримому размеру в данном процессе. И обозначается CD. Критическое измерение обычно измеряется с использованием нанометр для Длина. Обратите внимание, что значение Критическое измерение всегда равно позитивный.

Формулы для поиска Критическое измерение в Интегральные схемы (ИС)

fxКритическое измерениеИдти

Список переменных в формулах Интегральные схемы (ИС)

fx Зависимая от процесса константа Идти

fx Длина волны в фотолитографии Идти

fx Числовая апертура Идти

FAQ

Что такое Критическое измерение?

Критический размер в производстве полупроводников относится к наименьшему размеру элемента или наименьшему измеримому размеру в данном процессе. Критическое измерение обычно измеряется с использованием нанометр для Длина. Обратите внимание, что значение Критическое измерение всегда равно позитивный.

Может ли Критическое измерение быть отрицательным?

Нет, Критическое измерение, измеренная в Длина не могу, будет отрицательной.

Какая единица измерения используется для измерения Критическое измерение?

Критическое измерение обычно измеряется с использованием нанометр[nm] для Длина. Метр[nm], Миллиметр[nm], километр[nm] — это несколько других единиц, в которых можно измерить Критическое измерение.

Let Others Know

✖

Facebook

Twitter

Copied!