Концентрация отверстий в полосе обшивки в Твердотельные устройства Формулы

Концентрация дырок в валентной зоне относится к количеству или обилию дырок, присутствующих в валентной зоне полупроводникового материала. И обозначается p₀. Концентрация отверстий в полосе обшивки обычно измеряется с использованием 1 на кубический метр для Концентрация носителя. Обратите внимание, что значение Концентрация отверстий в полосе обшивки всегда равно позитивный.

Формулы для поиска Концентрация отверстий в полосе обшивки в Твердотельные устройства

fxКонцентрация дырок в валентной зонеИдти

Формулы Твердотельные устройства, в которых используется Концентрация отверстий в полосе обшивки

fxСрок службы оператора связиИдти

fxЭффективное состояние плотности в валентной зонеИдти

fxВремя жизни рекомбинацииИдти

Список переменных в формулах Твердотельные устройства

fx Эффективная плотность состояний в валентной зоне Идти

fx Функция Ферми Идти

FAQ

Что такое Концентрация отверстий в полосе обшивки?

Концентрация дырок в валентной зоне относится к количеству или обилию дырок, присутствующих в валентной зоне полупроводникового материала. Концентрация отверстий в полосе обшивки обычно измеряется с использованием 1 на кубический метр для Концентрация носителя. Обратите внимание, что значение Концентрация отверстий в полосе обшивки всегда равно позитивный.

Может ли Концентрация отверстий в полосе обшивки быть отрицательным?

Нет, Концентрация отверстий в полосе обшивки, измеренная в Концентрация носителя не могу, будет отрицательной.

Какая единица измерения используется для измерения Концентрация отверстий в полосе обшивки?

Концентрация отверстий в полосе обшивки обычно измеряется с использованием 1 на кубический метр[1/m³] для Концентрация носителя. 1 на кубический сантиметр[1/m³], за литр[1/m³] — это несколько других единиц, в которых можно измерить Концентрация отверстий в полосе обшивки.

Let Others Know

✖

Facebook

Twitter

Copied!