Подвижность дырок в канале зависит от различных факторов, таких как кристаллическая структура полупроводникового материала, наличие примесей, температура, И обозначается μp. Подвижность отверстий в канале обычно измеряется с использованием Квадратный метр на вольт в секунду для Мобильность. Обратите внимание, что значение Подвижность отверстий в канале всегда равно отрицательный.