Глубина фокуса в Интегральные схемы (ИС) Формулы

Глубина фокуса — критический параметр, влияющий на устойчивость к изменениям высоты полупроводниковой пластины. И обозначается DOF. Глубина фокуса обычно измеряется с использованием микрометр для Длина волны. Обратите внимание, что значение Глубина фокуса всегда равно позитивный.

Формулы для поиска Глубина фокуса в Интегральные схемы (ИС)

fxГлубина фокусаИдти

Список переменных в формулах Интегральные схемы (ИС)

fx Коэффициент пропорциональности Идти

fx Длина волны в фотолитографии Идти

fx Числовая апертура Идти

FAQ

Что такое Глубина фокуса?

Глубина фокуса — критический параметр, влияющий на устойчивость к изменениям высоты полупроводниковой пластины. Глубина фокуса обычно измеряется с использованием микрометр для Длина волны. Обратите внимание, что значение Глубина фокуса всегда равно позитивный.

Может ли Глубина фокуса быть отрицательным?

Нет, Глубина фокуса, измеренная в Длина волны не могу, будет отрицательной.

Какая единица измерения используется для измерения Глубина фокуса?

Глубина фокуса обычно измеряется с использованием микрометр[μm] для Длина волны. метр[μm], Мегаметр[μm], километр[μm] — это несколько других единиц, в которых можно измерить Глубина фокуса.

Let Others Know

✖

Facebook

Twitter

Copied!