Penetração de carga do tipo N refere-se ao fenômeno em que elétrons adicionais de átomos dopantes, normalmente fósforo ou arsênico, penetram na rede cristalina do material semicondutor. E é denotado por xno. Penetração de carga tipo N geralmente é medido usando Micrômetro para Comprimento. Observe que o valor de Penetração de carga tipo N é sempre positivo.