Dimensão crítica em Circuitos Integrados (CI) Fórmulas

A dimensão crítica na fabricação de semicondutores refere-se ao menor tamanho de recurso ou ao menor tamanho mensurável em um determinado processo. E é denotado por CD. Dimensão crítica geralmente é medido usando Nanômetro para Comprimento. Observe que o valor de Dimensão crítica é sempre positivo.

Fórmulas para encontrar Dimensão crítica em Circuitos Integrados (CI)

fxDimensão críticaIr

Lista de variáveis em fórmulas Circuitos Integrados (CI)

fx Constante Dependente do Processo Ir

fx Comprimento de onda em fotolitografia Ir

fx Abertura numerica Ir

FAQ

O que é Dimensão crítica?

A dimensão crítica na fabricação de semicondutores refere-se ao menor tamanho de recurso ou ao menor tamanho mensurável em um determinado processo. Dimensão crítica geralmente é medido usando Nanômetro para Comprimento. Observe que o valor de Dimensão crítica é sempre positivo.

O Dimensão crítica pode ser negativo?

Não, o Dimensão crítica, medido em Comprimento não pode ser negativo.

Qual unidade é usada para medir Dimensão crítica?

Dimensão crítica geralmente é medido usando Nanômetro[nm] para Comprimento. Metro[nm], Milímetro[nm], Quilômetro[nm] são as poucas outras unidades nas quais Dimensão crítica pode ser medido.

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