Verbindingsdiepte na volledige schaling in VLSI-fabricage Formules

Verbindingsdiepte na volledige schaling wordt gedefinieerd als de afstand vanaf het oppervlak tot het punt waar een verandering in de concentratie van doteringsatomen optreedt na volledige schaling. En wordt aangegeven met x_j'. Verbindingsdiepte na volledige schaling wordt gewoonlijk gemeten met de Micrometer voor Lengte. Houd er rekening mee dat de waarde van Verbindingsdiepte na volledige schaling altijd positief is.

Formules om Verbindingsdiepte na volledige schaling te vinden in VLSI-fabricage

fxVerbindingsdiepte na volledige schaling VLSIGan

Lijst met variabelen in formules van VLSI-fabricage

fx Verbindingsdiepte Gan

fx Schaalfactor Gan

FAQ

Wat is de Verbindingsdiepte na volledige schaling?

Verbindingsdiepte na volledige schaling wordt gedefinieerd als de afstand vanaf het oppervlak tot het punt waar een verandering in de concentratie van doteringsatomen optreedt na volledige schaling. Verbindingsdiepte na volledige schaling wordt gewoonlijk gemeten met de Micrometer voor Lengte. Houd er rekening mee dat de waarde van Verbindingsdiepte na volledige schaling altijd positief is.

Kan de Verbindingsdiepte na volledige schaling negatief zijn?

Nee, de Verbindingsdiepte na volledige schaling, gemeten in Lengte kan niet moet negatief zijn.

Welke eenheid wordt gebruikt om Verbindingsdiepte na volledige schaling te meten?

Verbindingsdiepte na volledige schaling wordt meestal gemeten met de Micrometer[μm] voor Lengte. Meter[μm], Millimeter[μm], Kilometer[μm] zijn de weinige andere eenheden waarin Verbindingsdiepte na volledige schaling kan worden gemeten.

Let Others Know

✖

Facebook

Twitter

Copied!