बल्क डिप्लीशन रिजन चार्ज डेन्सिटी VLSI सूत्र

Fx कॉपी करा
LaTeX कॉपी करा
सेमीकंडक्टर यंत्राच्या मोठ्या प्रमाणात कमी होणा-या क्षेत्राशी संबंधित प्रति युनिट क्षेत्र इलेक्ट्रिक चार्ज म्हणून बल्क डिप्लेशन रीजन चार्ज डेन्सिटी परिभाषित केली जाते. FAQs तपासा
QB0=-(1-(ΔLs+ΔLD2L))2[Charge-e][Permitivity-silicon][Permitivity-vacuum]NA|2Φs|
QB0 - बल्क डिप्लीशन क्षेत्र चार्ज घनता?ΔLs - स्त्रोतासह क्षीणता क्षेत्राची बाजूकडील विस्तार?ΔLD - नाल्यासह क्षीणता प्रदेशाचा पार्श्व विस्तार?L - चॅनेलची लांबी?NA - स्वीकारणारा एकाग्रता?Φs - पृष्ठभाग संभाव्य?[Charge-e] - इलेक्ट्रॉनचा चार्ज?[Permitivity-silicon] - सिलिकॉनची परवानगी?[Permitivity-vacuum] - व्हॅक्यूमची परवानगी?

बल्क डिप्लीशन रिजन चार्ज डेन्सिटी VLSI उदाहरण

मूल्यांसह
युनिट्ससह
फक्त उदाहरण

बल्क डिप्लीशन रिजन चार्ज डेन्सिटी VLSI समीकरण मूल्यांसह सारखे कसे दिसते ते येथे आहे.

बल्क डिप्लीशन रिजन चार्ज डेन्सिटी VLSI समीकरण युनिट्ससह सारखे कसे दिसते ते येथे आहे.

बल्क डिप्लीशन रिजन चार्ज डेन्सिटी VLSI समीकरण सारखे कसे दिसते ते येथे आहे.

-0.2006Edit=-(1-(0.1Edit+0.2Edit22.5Edit))21.6E-1911.78.9E-121E+16Edit|26.86Edit|
आपण येथे आहात -
HomeIcon मुख्यपृष्ठ » Category अभियांत्रिकी » Category इलेक्ट्रॉनिक्स » Category व्हीएलएसआय फॅब्रिकेशन » fx बल्क डिप्लीशन रिजन चार्ज डेन्सिटी VLSI

बल्क डिप्लीशन रिजन चार्ज डेन्सिटी VLSI उपाय

बल्क डिप्लीशन रिजन चार्ज डेन्सिटी VLSI ची गणना कशी करायची यावर आमचे चरण-दर-चरण उपाय फॉलो करा?

पहिली पायरी सूत्राचा विचार करा
QB0=-(1-(ΔLs+ΔLD2L))2[Charge-e][Permitivity-silicon][Permitivity-vacuum]NA|2Φs|
पुढचे पाऊल व्हेरिएबल्सची पर्यायी मूल्ये
QB0=-(1-(0.1μm+0.2μm22.5μm))2[Charge-e][Permitivity-silicon][Permitivity-vacuum]1E+161/cm³|26.86V|
पुढचे पाऊल स्थिरांकांची मूल्ये बदला
QB0=-(1-(0.1μm+0.2μm22.5μm))21.6E-19C11.78.9E-12F/m1E+161/cm³|26.86V|
पुढचे पाऊल युनिट्स रूपांतरित करा
QB0=-(1-(1E-7m+2E-7m22.5E-6m))21.6E-19C11.78.9E-12F/m1E+221/m³|26.86V|
पुढचे पाऊल मूल्यांकन करण्याची तयारी करा
QB0=-(1-(1E-7+2E-722.5E-6))21.6E-1911.78.9E-121E+22|26.86|
पुढचे पाऊल मूल्यांकन करा
QB0=-0.00200557851391776C/m²
पुढचे पाऊल आउटपुट युनिटमध्ये रूपांतरित करा
QB0=-0.200557851391776μC/cm²
शेवटची पायरी गोलाकार उत्तर
QB0=-0.2006μC/cm²

बल्क डिप्लीशन रिजन चार्ज डेन्सिटी VLSI सुत्र घटक

चल
स्थिरांक
कार्ये
बल्क डिप्लीशन क्षेत्र चार्ज घनता
सेमीकंडक्टर यंत्राच्या मोठ्या प्रमाणात कमी होणा-या क्षेत्राशी संबंधित प्रति युनिट क्षेत्र इलेक्ट्रिक चार्ज म्हणून बल्क डिप्लेशन रीजन चार्ज डेन्सिटी परिभाषित केली जाते.
चिन्ह: QB0
मोजमाप: पृष्ठभाग चार्ज घनतायुनिट: μC/cm²
नोंद: मूल्य सकारात्मक किंवा नकारात्मक असू शकते.
स्त्रोतासह क्षीणता क्षेत्राची बाजूकडील विस्तार
सेमीकंडक्टर यंत्रामध्ये स्त्रोत टर्मिनलपासून क्षैतिज प्रदेश ज्या ओलांडून क्षैतिज अंतर ओलांडते ते क्षैतिज अंतर स्त्रोतासह क्षय क्षेत्राचा पार्श्व विस्तार.
चिन्ह: ΔLs
मोजमाप: लांबीयुनिट: μm
नोंद: मूल्य 0 पेक्षा जास्त असावे.
नाल्यासह क्षीणता प्रदेशाचा पार्श्व विस्तार
सेमीकंडक्टर यंत्रामध्ये ड्रेन टर्मिनलपासून क्षैतिज प्रदेश ज्या ओलांडून क्षैतिज अंतरावर ड्रेनसह क्षय प्रदेशाचा पार्श्व विस्तार.
चिन्ह: ΔLD
मोजमाप: लांबीयुनिट: μm
नोंद: मूल्य 0 पेक्षा जास्त असावे.
चॅनेलची लांबी
चॅनेलची लांबी ट्रान्झिस्टर संरचनेतील स्त्रोत आणि ड्रेन टर्मिनल्समधील सेमीकंडक्टर सामग्रीच्या भौतिक लांबीचा संदर्भ देते.
चिन्ह: L
मोजमाप: लांबीयुनिट: μm
नोंद: मूल्य 0 पेक्षा जास्त असावे.
स्वीकारणारा एकाग्रता
स्वीकारणारा एकाग्रता अर्धसंवाहक सामग्रीमध्ये स्वीकारणारा डोपंट अणूंच्या एकाग्रतेचा संदर्भ देते.
चिन्ह: NA
मोजमाप: वाहक एकाग्रतायुनिट: 1/cm³
नोंद: मूल्य 0 पेक्षा जास्त असावे.
पृष्ठभाग संभाव्य
पातळ-फिल्म ट्रान्झिस्टरच्या DC गुणधर्माचे मूल्यमापन करण्यासाठी पृष्ठभाग संभाव्यता हे एक महत्त्वाचे पॅरामीटर आहे.
चिन्ह: Φs
मोजमाप: विद्युत क्षमतायुनिट: V
नोंद: मूल्य 0 पेक्षा जास्त असावे.
इलेक्ट्रॉनचा चार्ज
इलेक्ट्रॉनचा चार्ज हा एक मूलभूत भौतिक स्थिरांक आहे, जो इलेक्ट्रॉनद्वारे वाहून घेतलेल्या विद्युत शुल्काचे प्रतिनिधित्व करतो, जो ऋणात्मक विद्युत शुल्कासह प्राथमिक कण आहे.
चिन्ह: [Charge-e]
मूल्य: 1.60217662E-19 C
सिलिकॉनची परवानगी
सिलिकॉनची परवानगी विद्युत क्षेत्रामध्ये विद्युत ऊर्जा संचयित करण्याची क्षमता मोजते, सेमीकंडक्टर तंत्रज्ञानामध्ये महत्त्वपूर्ण आहे.
चिन्ह: [Permitivity-silicon]
मूल्य: 11.7
व्हॅक्यूमची परवानगी
व्हॅक्यूमची परवानगी ही एक मूलभूत भौतिक स्थिरता आहे जी विद्युत क्षेत्र रेषांच्या प्रसारणास परवानगी देण्यासाठी व्हॅक्यूमच्या क्षमतेचे वर्णन करते.
चिन्ह: [Permitivity-vacuum]
मूल्य: 8.85E-12 F/m
sqrt
स्क्वेअर रूट फंक्शन हे एक फंक्शन आहे जे इनपुट म्हणून नॉन-ऋणात्मक संख्या घेते आणि दिलेल्या इनपुट नंबरचे वर्गमूळ परत करते.
मांडणी: sqrt(Number)
abs
संख्येचे निरपेक्ष मूल्य म्हणजे संख्या रेषेवरील शून्यापासूनचे अंतर. हे नेहमी सकारात्मक मूल्य असते, कारण ते एका संख्येची दिशा विचारात न घेता त्याचे परिमाण दर्शवते.
मांडणी: abs(Number)

VLSI मटेरियल ऑप्टिमायझेशन वर्गातील इतर सूत्रे

​जा शरीर प्रभाव गुणांक
γ=modu̲s(Vt-Vt0Φs+(Vsb)-Φs)
​जा चॅनेल शुल्क
Qch=Cg(Vgc-Vt)
​जा गंभीर व्होल्टेज
Vx=ExEch
​जा DIBL गुणांक
η=Vt0-VtVds

बल्क डिप्लीशन रिजन चार्ज डेन्सिटी VLSI चे मूल्यमापन कसे करावे?

बल्क डिप्लीशन रिजन चार्ज डेन्सिटी VLSI मूल्यांकनकर्ता बल्क डिप्लीशन क्षेत्र चार्ज घनता, बल्क डिप्लेशन रीजन चार्ज डेन्सिटी व्हीएलएसआय फॉर्म्युला हे सेमीकंडक्टर उपकरणाच्या मोठ्या प्रमाणात कमी होण्याच्या क्षेत्राशी संबंधित प्रति युनिट क्षेत्र इलेक्ट्रिक चार्ज म्हणून परिभाषित केले आहे चे मूल्यमापन करण्यासाठी Bulk Depletion Region Charge Density = -(1-((स्त्रोतासह क्षीणता क्षेत्राची बाजूकडील विस्तार+नाल्यासह क्षीणता प्रदेशाचा पार्श्व विस्तार)/(2*चॅनेलची लांबी)))*sqrt(2*[Charge-e]*[Permitivity-silicon]*[Permitivity-vacuum]*स्वीकारणारा एकाग्रता*abs(2*पृष्ठभाग संभाव्य)) वापरतो. बल्क डिप्लीशन क्षेत्र चार्ज घनता हे QB0 चिन्हाने दर्शविले जाते.

हा ऑनलाइन मूल्यांकनकर्ता वापरून बल्क डिप्लीशन रिजन चार्ज डेन्सिटी VLSI चे मूल्यमापन कसे करायचे? हा ऑनलाइन मूल्यांकनकर्ता बल्क डिप्लीशन रिजन चार्ज डेन्सिटी VLSI साठी वापरण्यासाठी, स्त्रोतासह क्षीणता क्षेत्राची बाजूकडील विस्तार (ΔLs), नाल्यासह क्षीणता प्रदेशाचा पार्श्व विस्तार (ΔLD), चॅनेलची लांबी (L), स्वीकारणारा एकाग्रता (NA) & पृष्ठभाग संभाव्य s) प्रविष्ट करा आणि गणना बटण दाबा.

FAQs वर बल्क डिप्लीशन रिजन चार्ज डेन्सिटी VLSI

बल्क डिप्लीशन रिजन चार्ज डेन्सिटी VLSI शोधण्याचे सूत्र काय आहे?
बल्क डिप्लीशन रिजन चार्ज डेन्सिटी VLSI चे सूत्र Bulk Depletion Region Charge Density = -(1-((स्त्रोतासह क्षीणता क्षेत्राची बाजूकडील विस्तार+नाल्यासह क्षीणता प्रदेशाचा पार्श्व विस्तार)/(2*चॅनेलची लांबी)))*sqrt(2*[Charge-e]*[Permitivity-silicon]*[Permitivity-vacuum]*स्वीकारणारा एकाग्रता*abs(2*पृष्ठभाग संभाव्य)) म्हणून व्यक्त केले आहे. येथे एक उदाहरण आहे- -20.055785 = -(1-((1E-07+2E-07)/(2*2.5E-06)))*sqrt(2*[Charge-e]*[Permitivity-silicon]*[Permitivity-vacuum]*1E+22*abs(2*6.86)).
बल्क डिप्लीशन रिजन चार्ज डेन्सिटी VLSI ची गणना कशी करायची?
स्त्रोतासह क्षीणता क्षेत्राची बाजूकडील विस्तार (ΔLs), नाल्यासह क्षीणता प्रदेशाचा पार्श्व विस्तार (ΔLD), चॅनेलची लांबी (L), स्वीकारणारा एकाग्रता (NA) & पृष्ठभाग संभाव्य s) सह आम्ही सूत्र - Bulk Depletion Region Charge Density = -(1-((स्त्रोतासह क्षीणता क्षेत्राची बाजूकडील विस्तार+नाल्यासह क्षीणता प्रदेशाचा पार्श्व विस्तार)/(2*चॅनेलची लांबी)))*sqrt(2*[Charge-e]*[Permitivity-silicon]*[Permitivity-vacuum]*स्वीकारणारा एकाग्रता*abs(2*पृष्ठभाग संभाव्य)) वापरून बल्क डिप्लीशन रिजन चार्ज डेन्सिटी VLSI शोधू शकतो. हे सूत्र इलेक्ट्रॉनचा चार्ज, सिलिकॉनची परवानगी, व्हॅक्यूमची परवानगी स्थिर(चे) आणि , स्क्वेअर रूट फंक्शन, निरपेक्ष फंक्शन(s) देखील वापरते.
बल्क डिप्लीशन रिजन चार्ज डेन्सिटी VLSI नकारात्मक असू शकते का?
होय, बल्क डिप्लीशन रिजन चार्ज डेन्सिटी VLSI, पृष्ठभाग चार्ज घनता मध्ये मोजलेले करू शकता ऋण असू शकते.
बल्क डिप्लीशन रिजन चार्ज डेन्सिटी VLSI मोजण्यासाठी कोणते एकक वापरले जाते?
बल्क डिप्लीशन रिजन चार्ज डेन्सिटी VLSI हे सहसा पृष्ठभाग चार्ज घनता साठी मायक्रोकुलॉम्ब प्रति चौरस सेंटीमीटर[μC/cm²] वापरून मोजले जाते. कुलंब प्रति चौरस मीटर[μC/cm²], कुलंब प्रति चौरस सेंटीमीटर[μC/cm²], कुलंब प्रति चौरस इंच[μC/cm²] ही काही इतर एकके आहेत ज्यात बल्क डिप्लीशन रिजन चार्ज डेन्सिटी VLSI मोजता येतात.
Copied!