Tempo di apertura per ingresso in caduta in Progettazione e applicazioni CMOS Formule

Il tempo di apertura per l’ingresso in caduta è definito come il tempo durante l’ingresso in cui la logica scende a 0 o all’uscita bassa. Ed è indicato da t_af. Tempo di apertura per ingresso in caduta viene solitamente misurato utilizzando Nanosecondo per Tempo. Tieni presente che il valore di Tempo di apertura per ingresso in caduta è sempre positivo.

Formule per trovare Tempo di apertura per ingresso in caduta in Progettazione e applicazioni CMOS

fxTempo di apertura per ingresso in cadutava

Formule Progettazione e applicazioni CMOS che utilizzano Tempo di apertura per ingresso in caduta

fxTempo di configurazione con logica bassava

fxLogica Hold Time at Highva

Elenco di variabili nelle formule Progettazione e applicazioni CMOS

fx Tempo di impostazione a logica bassa va

fx Mantieni il tempo ad alta logica va

FAQ

Qual è il Tempo di apertura per ingresso in caduta?

Il tempo di apertura per l’ingresso in caduta è definito come il tempo durante l’ingresso in cui la logica scende a 0 o all’uscita bassa. Tempo di apertura per ingresso in caduta viene solitamente misurato utilizzando Nanosecondo per Tempo. Tieni presente che il valore di Tempo di apertura per ingresso in caduta è sempre positivo.

Il Tempo di apertura per ingresso in caduta può essere negativo?

NO, Tempo di apertura per ingresso in caduta, misurato in Tempo non può può essere negativo.

Quale unità viene utilizzata per misurare Tempo di apertura per ingresso in caduta?

Tempo di apertura per ingresso in caduta viene solitamente misurato utilizzando Nanosecondo[ns] per Tempo. Secondo[ns], Millisecondo[ns], Microsecondo[ns] sono le poche altre unità in cui è possibile misurare Tempo di apertura per ingresso in caduta.

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