Lunghezza d'onda nella fotolitografia in Circuiti integrati (IC) Formule

La lunghezza d’onda nella fotolitografia si riferisce alla gamma specifica di radiazione elettromagnetica impiegata per modellare i wafer semiconduttori durante il processo di fabbricazione del semiconduttore. Ed è indicato da λ_l. Lunghezza d'onda nella fotolitografia viene solitamente misurato utilizzando Nanometro per Lunghezza d'onda. Tieni presente che il valore di Lunghezza d'onda nella fotolitografia è sempre positivo.