Temps d'ouverture pour une entrée descendante dans Conception et applications CMOS Formules

Le temps d’ouverture pour une entrée descendante est défini comme le temps pendant l’entrée pendant lequel la logique tombe à 0 ou à une sortie faible. Et est désigné par t_af. Temps d'ouverture pour une entrée descendante est généralement mesuré à l'aide du Nanoseconde pour Temps. Notez que la valeur de Temps d'ouverture pour une entrée descendante est toujours positif.

Formules pour rechercher Temps d'ouverture pour une entrée descendante dans Conception et applications CMOS

fxTemps d'ouverture pour une entrée descendanteva

Formules Conception et applications CMOS qui utilisent Temps d'ouverture pour une entrée descendante

fxTemps de configuration à basse logiqueva

fxTemps de maintien à la logique hauteva

Liste des variables dans les formules Conception et applications CMOS

fx Temps de configuration à logique basse va

fx Temps de maintien à logique élevée va

FAQ

Qu'est-ce que Temps d'ouverture pour une entrée descendante ?

Le temps d’ouverture pour une entrée descendante est défini comme le temps pendant l’entrée pendant lequel la logique tombe à 0 ou à une sortie faible. Temps d'ouverture pour une entrée descendante est généralement mesuré à l'aide du Nanoseconde pour Temps. Notez que la valeur de Temps d'ouverture pour une entrée descendante est toujours positif.

Le Temps d'ouverture pour une entrée descendante peut-il être négatif ?

Non, le Temps d'ouverture pour une entrée descendante, mesuré dans Temps ne peut pas, peut être négatif.

Quelle unité est utilisée pour mesurer Temps d'ouverture pour une entrée descendante ?

Temps d'ouverture pour une entrée descendante est généralement mesuré à l'aide de Nanoseconde[ns] pour Temps. Deuxième[ns], milliseconde[ns], Microseconde[ns] sont les quelques autres unités dans lesquelles Temps d'ouverture pour une entrée descendante peut être mesuré.

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