Retard de la porte ET OU dans Conception et applications CMOS Formules

Le retard de la porte ET/OU dans la cellule grise est défini comme le retard du temps de calcul dans la porte ET/OU lorsque la logique la traverse. Et est désigné par t_AO. Retard de la porte ET OU est généralement mesuré à l'aide du Nanoseconde pour Temps. Notez que la valeur de Retard de la porte ET OU est toujours positif.

Formules pour rechercher Retard de la porte ET OU dans Conception et applications CMOS

fxRetard de la porte AND-OR dans la cellule griseva

Formules Conception et applications CMOS qui utilisent Retard de la porte ET OU

fxRetard des portes de propagation 1 bitva

Liste des variables dans les formules Conception et applications CMOS

fx Retard du chemin critique va

fx Délai de propagation total va

fx Retard de la porte XOR va

fx Portes sur le chemin critique va

FAQ

Qu'est-ce que Retard de la porte ET OU ?

Le retard de la porte ET/OU dans la cellule grise est défini comme le retard du temps de calcul dans la porte ET/OU lorsque la logique la traverse. Retard de la porte ET OU est généralement mesuré à l'aide du Nanoseconde pour Temps. Notez que la valeur de Retard de la porte ET OU est toujours positif.

Le Retard de la porte ET OU peut-il être négatif ?

Non, le Retard de la porte ET OU, mesuré dans Temps ne peut pas, peut être négatif.

Quelle unité est utilisée pour mesurer Retard de la porte ET OU ?

Retard de la porte ET OU est généralement mesuré à l'aide de Nanoseconde[ns] pour Temps. Deuxième[ns], milliseconde[ns], Microseconde[ns] sont les quelques autres unités dans lesquelles Retard de la porte ET OU peut être mesuré.

Let Others Know

✖

Facebook

Twitter

Copied!