Retard critique dans les portes dans Conception et applications CMOS Formules

Le délai critique dans les portes fait référence au retard maximum qui peut se produire dans une porte ou une combinaison de portes au sein d’un circuit. Et est désigné par T_gd. Retard critique dans les portes est généralement mesuré à l'aide du Nanoseconde pour Temps. Notez que la valeur de Retard critique dans les portes est toujours positif.

Formules pour rechercher Retard critique dans les portes dans Conception et applications CMOS

fxRetard critique dans les portesva

Liste des variables dans les formules Conception et applications CMOS

fx Délai de propagation va

fx Porte ET à entrée N va

fx Entrée K ET Porte va

fx Délai de porte ET-OU va

fx Retard du multiplexeur va

FAQ

Qu'est-ce que Retard critique dans les portes ?

Le délai critique dans les portes fait référence au retard maximum qui peut se produire dans une porte ou une combinaison de portes au sein d’un circuit. Retard critique dans les portes est généralement mesuré à l'aide du Nanoseconde pour Temps. Notez que la valeur de Retard critique dans les portes est toujours positif.

Le Retard critique dans les portes peut-il être négatif ?

Non, le Retard critique dans les portes, mesuré dans Temps ne peut pas, peut être négatif.

Quelle unité est utilisée pour mesurer Retard critique dans les portes ?

Retard critique dans les portes est généralement mesuré à l'aide de Nanoseconde[ns] pour Temps. Deuxième[ns], milliseconde[ns], Microseconde[ns] sont les quelques autres unités dans lesquelles Retard critique dans les portes peut être mesuré.

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