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Conception et applications CMOS
Ligne à retard contrôlée en tension dans Conception et applications CMOS Formules
La ligne à retard contrôlée en tension est définie comme un circuit à retard contrôlé en tension comprenant des circuits à retard inverseurs de type n dans un circuit à boucle à verrouillage de phase (PLL) et une ligne à retard contrôlée en tension (VCDL). Et est désigné par ΔV
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. Ligne à retard contrôlée en tension est généralement mesuré à l'aide du Volt pour Potentiel électrique. Notez que la valeur de Ligne à retard contrôlée en tension est toujours négatif.
Formules pour rechercher Ligne à retard contrôlée en tension dans Conception et applications CMOS
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Ligne à retard contrôlée en tension
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Formules Conception et applications CMOS qui utilisent Ligne à retard contrôlée en tension
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Gain VCDL
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Petit retard de déviation
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Liste des variables dans les formules Conception et applications CMOS
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Délai de petit écart
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Gain VDL
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FAQ
Qu'est-ce que Ligne à retard contrôlée en tension ?
La ligne à retard contrôlée en tension est définie comme un circuit à retard contrôlé en tension comprenant des circuits à retard inverseurs de type n dans un circuit à boucle à verrouillage de phase (PLL) et une ligne à retard contrôlée en tension (VCDL). Ligne à retard contrôlée en tension est généralement mesuré à l'aide du Volt pour Potentiel électrique. Notez que la valeur de Ligne à retard contrôlée en tension est toujours négatif.
Le Ligne à retard contrôlée en tension peut-il être négatif ?
Oui, le Ligne à retard contrôlée en tension, mesuré dans Potentiel électrique peut, peut être négatif.
Quelle unité est utilisée pour mesurer Ligne à retard contrôlée en tension ?
Ligne à retard contrôlée en tension est généralement mesuré à l'aide de Volt[V] pour Potentiel électrique. millivolt[V], Microvolt[V], Nanovolt[V] sont les quelques autres unités dans lesquelles Ligne à retard contrôlée en tension peut être mesuré.
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