Délai de porte ET-OU dans Conception et applications CMOS Formules

Le délai de la porte ET-OU dans la cellule grise est défini comme le retard du temps de calcul dans la porte ET/OU lorsque la logique la traverse. Et est désigné par T_ao. Délai de porte ET-OU est généralement mesuré à l'aide du Nanoseconde pour Temps. Notez que la valeur de Délai de porte ET-OU est toujours positif.

Formules Conception et applications CMOS qui utilisent Délai de porte ET-OU

fxRetard du chemin critique de l'additionneur de report d'ondulationva

fxDélai « XOR »va

fxDélai d'additionneur de reportva

fxRetard du multiplexeurva

fxDélai d'additionneur de portageva

fxDélai de propagation de groupeva

fxRetard critique dans les portesva

fxDélai d'additionneur d'augmentation de reportva

fxDélai d'additionneur d'arbreva

FAQ

Qu'est-ce que Délai de porte ET-OU ?

Le délai de la porte ET-OU dans la cellule grise est défini comme le retard du temps de calcul dans la porte ET/OU lorsque la logique la traverse. Délai de porte ET-OU est généralement mesuré à l'aide du Nanoseconde pour Temps. Notez que la valeur de Délai de porte ET-OU est toujours positif.

Le Délai de porte ET-OU peut-il être négatif ?

Non, le Délai de porte ET-OU, mesuré dans Temps ne peut pas, peut être négatif.

Quelle unité est utilisée pour mesurer Délai de porte ET-OU ?

Délai de porte ET-OU est généralement mesuré à l'aide de Nanoseconde[ns] pour Temps. Deuxième[ns], milliseconde[ns], Microseconde[ns] sont les quelques autres unités dans lesquelles Délai de porte ET-OU peut être mesuré.

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