Capacité parasite de la source dans Fabrication VLSI Formules

La capacité parasite de la source est une capacité inévitable et généralement indésirable. Et est désigné par C_sop. Capacité parasite de la source est généralement mesuré à l'aide du Microfarad par millimètre carré pour Capacité d'oxyde par unité de surface. Notez que la valeur de Capacité parasite de la source est toujours positif.

Formules pour rechercher Capacité parasite de la source dans Fabrication VLSI

fxCapacité parasitaire totale de la sourceva

Liste des variables dans les formules Fabrication VLSI

fx Capacité entre la jonction du corps et la source va

fx Zone de diffusion de la source va

fx Capacité entre la jonction du corps et la paroi latérale va

fx Périmètre de paroi latérale de diffusion de la source va

FAQ

Qu'est-ce que Capacité parasite de la source ?

La capacité parasite de la source est une capacité inévitable et généralement indésirable. Capacité parasite de la source est généralement mesuré à l'aide du Microfarad par millimètre carré pour Capacité d'oxyde par unité de surface. Notez que la valeur de Capacité parasite de la source est toujours positif.

Le Capacité parasite de la source peut-il être négatif ?

Non, le Capacité parasite de la source, mesuré dans Capacité d'oxyde par unité de surface ne peut pas, peut être négatif.

Quelle unité est utilisée pour mesurer Capacité parasite de la source ?

Capacité parasite de la source est généralement mesuré à l'aide de Microfarad par millimètre carré[μF/mm²] pour Capacité d'oxyde par unité de surface. Farad par mètre carré[μF/mm²], Nanofarad par centimètre carré[μF/mm²], Microfarad par centimètre carré[μF/mm²] sont les quelques autres unités dans lesquelles Capacité parasite de la source peut être mesuré.

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