Profundidad de enfoque en Circuitos integrados (CI) Fórmulas

La profundidad de enfoque es un parámetro crítico que influye en la tolerancia a las variaciones en la altura de la oblea semiconductora. Y se indica con DOF. Profundidad de enfoque generalmente se mide usando Micrómetro para Longitud de onda. Tenga en cuenta que el valor de Profundidad de enfoque es siempre positivo.

Fórmulas para encontrar Profundidad de enfoque en Circuitos integrados (CI)

fxProfundidad de enfoqueIr

Lista de variables en fórmulas de Circuitos integrados (CI)

fx Factor de proporcionalidad Ir

fx Longitud de onda en fotolitografía Ir

fx Apertura numérica Ir

FAQ

¿Qué es Profundidad de enfoque?

La profundidad de enfoque es un parámetro crítico que influye en la tolerancia a las variaciones en la altura de la oblea semiconductora. Profundidad de enfoque generalmente se mide usando Micrómetro para Longitud de onda. Tenga en cuenta que el valor de Profundidad de enfoque es siempre positivo.

¿Puede el Profundidad de enfoque ser negativo?

No, el Profundidad de enfoque, medido en Longitud de onda no puedo sea negativo.

¿Qué unidad se utiliza para medir Profundidad de enfoque?

Profundidad de enfoque generalmente se mide usando Micrómetro[μm] para Longitud de onda. Metro[μm], megámetro[μm], Kilómetro[μm] son las pocas otras unidades en las que se puede medir Profundidad de enfoque.

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