La movilidad de los agujeros en el canal depende de varios factores, como la estructura cristalina del material semiconductor, la presencia de impurezas, la temperatura, Y se indica con μp. Movilidad de agujeros en canal generalmente se mide usando Metro cuadrado por voltio por segundo para Movilidad. Tenga en cuenta que el valor de Movilidad de agujeros en canal es siempre negativo.