Dimensión crítica en Circuitos integrados (CI) Fórmulas

La dimensión crítica en la fabricación de semiconductores se refiere al tamaño de característica más pequeño o al tamaño más pequeño medible en un proceso determinado. Y se indica con CD. Dimensión crítica generalmente se mide usando nanómetro para Longitud. Tenga en cuenta que el valor de Dimensión crítica es siempre positivo.

Fórmulas para encontrar Dimensión crítica en Circuitos integrados (CI)

fxDimensión críticaIr

Lista de variables en fórmulas de Circuitos integrados (CI)

fx Constante dependiente del proceso Ir

fx Longitud de onda en fotolitografía Ir

fx Apertura numérica Ir

FAQ

¿Qué es Dimensión crítica?

La dimensión crítica en la fabricación de semiconductores se refiere al tamaño de característica más pequeño o al tamaño más pequeño medible en un proceso determinado. Dimensión crítica generalmente se mide usando nanómetro para Longitud. Tenga en cuenta que el valor de Dimensión crítica es siempre positivo.

¿Puede el Dimensión crítica ser negativo?

No, el Dimensión crítica, medido en Longitud no puedo sea negativo.

¿Qué unidad se utiliza para medir Dimensión crítica?

Dimensión crítica generalmente se mide usando nanómetro[nm] para Longitud. Metro[nm], Milímetro[nm], Kilómetro[nm] son las pocas otras unidades en las que se puede medir Dimensión crítica.

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