FAQ

¿Qué es Densidad de corriente de deriva debido a agujeros?
La densidad de corriente de deriva debido a los agujeros se refiere al movimiento de los portadores de carga (agujeros) en un material semiconductor bajo la influencia de un campo eléctrico. Densidad de corriente de deriva debido a agujeros generalmente se mide usando Amperio por milímetro cuadrado para Densidad de corriente superficial. Tenga en cuenta que el valor de Densidad de corriente de deriva debido a agujeros es siempre positivo.
¿Puede el Densidad de corriente de deriva debido a agujeros ser negativo?
No, el Densidad de corriente de deriva debido a agujeros, medido en Densidad de corriente superficial no puedo sea negativo.
¿Qué unidad se utiliza para medir Densidad de corriente de deriva debido a agujeros?
Densidad de corriente de deriva debido a agujeros generalmente se mide usando Amperio por milímetro cuadrado[A/mm²] para Densidad de corriente superficial. Amperio por metro cuadrado[A/mm²], Amperio por centímetro cuadrado[A/mm²], Amperio por pulgada cuadrada[A/mm²] son las pocas otras unidades en las que se puede medir Densidad de corriente de deriva debido a agujeros.
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