Verzögerung des UND-ODER-Gatters in CMOS-Design und Anwendungen Formeln

Die Verzögerung des UND-ODER-Gatters in der grauen Zelle ist definiert als die Verzögerung der Rechenzeit im UND/ODER-Gatter, wenn die Logik durch dieses hindurchgeleitet wird. Und wird durch t_AO gekennzeichnet. Verzögerung des UND-ODER-Gatters wird normalerweise mit Nanosekunde für Zeit gemessen. Beachten Sie, dass der Wert von Verzögerung des UND-ODER-Gatters immer positiv ist.

Formeln zum Suchen von Verzögerung des UND-ODER-Gatters in CMOS-Design und Anwendungen

fxVerzögerung des UND-ODER-Gatters in der grauen Zellege

CMOS-Design und Anwendungen-Formeln, die Verzögerung des UND-ODER-Gatters verwenden

fxVerzögerung von 1-Bit-Propagate-Gatesge

Liste der Variablen in CMOS-Design und Anwendungen-Formeln

fx Kritische Pfadverzögerung ge

fx Gesamtausbreitungsverzögerung ge

fx XOR-Gate-Verzögerung ge

fx Gates auf kritischem Weg ge

FAQ

Was ist der Verzögerung des UND-ODER-Gatters?

Die Verzögerung des UND-ODER-Gatters in der grauen Zelle ist definiert als die Verzögerung der Rechenzeit im UND/ODER-Gatter, wenn die Logik durch dieses hindurchgeleitet wird. Verzögerung des UND-ODER-Gatters wird normalerweise mit Nanosekunde für Zeit gemessen. Beachten Sie, dass der Wert von Verzögerung des UND-ODER-Gatters immer positiv ist.

Kann Verzögerung des UND-ODER-Gatters negativ sein?

NEIN, der in Zeit gemessene Verzögerung des UND-ODER-Gatters kann kann nicht negativ sein.

Welche Einheit wird zum Messen von Verzögerung des UND-ODER-Gatters verwendet?

Verzögerung des UND-ODER-Gatters wird normalerweise mit Nanosekunde[ns] für Zeit gemessen. Zweite[ns], Millisekunde[ns], Mikrosekunde[ns] sind die wenigen anderen Einheiten, in denen Verzögerung des UND-ODER-Gatters gemessen werden kann.

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