Verbindungstiefe nach vollständiger Skalierung in VLSI-Herstellung Formeln

Die Übergangstiefe nach vollständiger Skalierung ist definiert als der Abstand von der Oberfläche bis zu dem Punkt, an dem nach vollständiger Skalierung eine Änderung der Konzentration der Dotierstoffatome auftritt. Und wird durch x_j' gekennzeichnet. Verbindungstiefe nach vollständiger Skalierung wird normalerweise mit Mikrometer für Länge gemessen. Beachten Sie, dass der Wert von Verbindungstiefe nach vollständiger Skalierung immer positiv ist.

Formeln zum Suchen von Verbindungstiefe nach vollständiger Skalierung in VLSI-Herstellung

fxVerbindungstiefe nach vollständiger Skalierung von VLSIge

Liste der Variablen in VLSI-Herstellung-Formeln

fx Verbindungstiefe ge

fx Vergößerungsfaktor, Verkleinerungsfaktor ge

FAQ

Was ist der Verbindungstiefe nach vollständiger Skalierung?

Die Übergangstiefe nach vollständiger Skalierung ist definiert als der Abstand von der Oberfläche bis zu dem Punkt, an dem nach vollständiger Skalierung eine Änderung der Konzentration der Dotierstoffatome auftritt. Verbindungstiefe nach vollständiger Skalierung wird normalerweise mit Mikrometer für Länge gemessen. Beachten Sie, dass der Wert von Verbindungstiefe nach vollständiger Skalierung immer positiv ist.

Kann Verbindungstiefe nach vollständiger Skalierung negativ sein?

NEIN, der in Länge gemessene Verbindungstiefe nach vollständiger Skalierung kann kann nicht negativ sein.

Welche Einheit wird zum Messen von Verbindungstiefe nach vollständiger Skalierung verwendet?

Verbindungstiefe nach vollständiger Skalierung wird normalerweise mit Mikrometer[μm] für Länge gemessen. Meter[μm], Millimeter[μm], Kilometer[μm] sind die wenigen anderen Einheiten, in denen Verbindungstiefe nach vollständiger Skalierung gemessen werden kann.

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