UND-ODER-Gate-Verzögerung in CMOS-Design und Anwendungen Formeln

Die Verzögerung des UND-ODER-Gatters in der grauen Zelle ist definiert als die Verzögerung der Rechenzeit im UND/ODER-Gatter, wenn die Logik durch dieses hindurchgeleitet wird. Und wird durch T_ao gekennzeichnet. UND-ODER-Gate-Verzögerung wird normalerweise mit Nanosekunde für Zeit gemessen. Beachten Sie, dass der Wert von UND-ODER-Gate-Verzögerung immer positiv ist.

CMOS-Design und Anwendungen-Formeln, die UND-ODER-Gate-Verzögerung verwenden

fxKritische Pfadverzögerung des Carry-Ripple-Addierersge

fx'XOR'-Verzögerungge

fxCarry-Skip Adder Delayge

fxMultiplexer-Verzögerungge

fxVerzögerung des Carry-Looker-Addierersge

fxVerzögerung der Gruppenausbreitungge

fxKritische Verzögerung bei Gatesge

fxCarry-Increamentor Adder Delayge

fxVerzögerung der Baumaddiererge

FAQ

Was ist der UND-ODER-Gate-Verzögerung?

Die Verzögerung des UND-ODER-Gatters in der grauen Zelle ist definiert als die Verzögerung der Rechenzeit im UND/ODER-Gatter, wenn die Logik durch dieses hindurchgeleitet wird. UND-ODER-Gate-Verzögerung wird normalerweise mit Nanosekunde für Zeit gemessen. Beachten Sie, dass der Wert von UND-ODER-Gate-Verzögerung immer positiv ist.

Kann UND-ODER-Gate-Verzögerung negativ sein?

NEIN, der in Zeit gemessene UND-ODER-Gate-Verzögerung kann kann nicht negativ sein.

Welche Einheit wird zum Messen von UND-ODER-Gate-Verzögerung verwendet?

UND-ODER-Gate-Verzögerung wird normalerweise mit Nanosekunde[ns] für Zeit gemessen. Zweite[ns], Millisekunde[ns], Mikrosekunde[ns] sind die wenigen anderen Einheiten, in denen UND-ODER-Gate-Verzögerung gemessen werden kann.

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