Überlappungskapazität in Integrierte Schaltkreise (IC) Formeln

Die Überlappungskapazität ist eine parasitäre Kapazität, die durch die physikalische Überlappung zwischen den Gate- und den Source-/Drain-Bereichen entsteht. Und wird durch C_ov gekennzeichnet. Überlappungskapazität wird normalerweise mit Farad für Kapazität gemessen. Beachten Sie, dass der Wert von Überlappungskapazität immer positiv ist.

Integrierte Schaltkreise (IC)-Formeln, die Überlappungskapazität verwenden

fxGate-Source-Kapazität bei gegebener Überlappungskapazitätge

FAQ

Was ist der Überlappungskapazität?

Die Überlappungskapazität ist eine parasitäre Kapazität, die durch die physikalische Überlappung zwischen den Gate- und den Source-/Drain-Bereichen entsteht. Überlappungskapazität wird normalerweise mit Farad für Kapazität gemessen. Beachten Sie, dass der Wert von Überlappungskapazität immer positiv ist.

Kann Überlappungskapazität negativ sein?

NEIN, der in Kapazität gemessene Überlappungskapazität kann kann nicht negativ sein.

Welche Einheit wird zum Messen von Überlappungskapazität verwendet?

Überlappungskapazität wird normalerweise mit Farad[F] für Kapazität gemessen. Kilofarad[F], Millifarad[F], Mikrofarad[F] sind die wenigen anderen Einheiten, in denen Überlappungskapazität gemessen werden kann.

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