Seitenwandumfang der Quellendiffusion in VLSI-Herstellung Formeln

Der Seitenwandumfang der Quellendiffusion ist als Umfang der Quellendiffusion definiert, ohne die Kante unter dem Gate. Und wird durch P_s gekennzeichnet. Seitenwandumfang der Quellendiffusion wird normalerweise mit Millimeter für Länge gemessen. Beachten Sie, dass der Wert von Seitenwandumfang der Quellendiffusion immer positiv ist.

VLSI-Herstellung-Formeln, die Seitenwandumfang der Quellendiffusion verwenden

fxParasitäre Gesamtkapazitätsquellege

FAQ

Was ist der Seitenwandumfang der Quellendiffusion?

Der Seitenwandumfang der Quellendiffusion ist als Umfang der Quellendiffusion definiert, ohne die Kante unter dem Gate. Seitenwandumfang der Quellendiffusion wird normalerweise mit Millimeter für Länge gemessen. Beachten Sie, dass der Wert von Seitenwandumfang der Quellendiffusion immer positiv ist.

Kann Seitenwandumfang der Quellendiffusion negativ sein?

NEIN, der in Länge gemessene Seitenwandumfang der Quellendiffusion kann kann nicht negativ sein.

Welche Einheit wird zum Messen von Seitenwandumfang der Quellendiffusion verwendet?

Seitenwandumfang der Quellendiffusion wird normalerweise mit Millimeter[mm] für Länge gemessen. Meter[mm], Kilometer[mm], Dezimeter[mm] sind die wenigen anderen Einheiten, in denen Seitenwandumfang der Quellendiffusion gemessen werden kann.

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