Kritische Dimension in Integrierte Schaltkreise (IC) Formeln

Kritische Dimension in der Halbleiterfertigung bezieht sich auf die kleinste Strukturgröße oder die kleinste messbare Größe in einem bestimmten Prozess. Und wird durch CD gekennzeichnet. Kritische Dimension wird normalerweise mit Nanometer für Länge gemessen. Beachten Sie, dass der Wert von Kritische Dimension immer positiv ist.

Formeln zum Suchen von Kritische Dimension in Integrierte Schaltkreise (IC)

fxKritische Dimensionge

Liste der Variablen in Integrierte Schaltkreise (IC)-Formeln

fx Prozessabhängige Konstante ge

fx Wellenlänge in der Fotolithographie ge

fx Numerische Apertur ge

FAQ

Was ist der Kritische Dimension?

Kritische Dimension in der Halbleiterfertigung bezieht sich auf die kleinste Strukturgröße oder die kleinste messbare Größe in einem bestimmten Prozess. Kritische Dimension wird normalerweise mit Nanometer für Länge gemessen. Beachten Sie, dass der Wert von Kritische Dimension immer positiv ist.

Kann Kritische Dimension negativ sein?

NEIN, der in Länge gemessene Kritische Dimension kann kann nicht negativ sein.

Welche Einheit wird zum Messen von Kritische Dimension verwendet?

Kritische Dimension wird normalerweise mit Nanometer[nm] für Länge gemessen. Meter[nm], Millimeter[nm], Kilometer[nm] sind die wenigen anderen Einheiten, in denen Kritische Dimension gemessen werden kann.

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