Kantenrate in CMOS-Design und Anwendungen Formeln

Die Flankengeschwindigkeit ist definiert als das Verhältnis der Anstiegszeit zur Abfallzeit. Und wird durch t_e gekennzeichnet. Kantenrate wird normalerweise mit Nanosekunde für Zeit gemessen. Beachten Sie, dass der Wert von Kantenrate immer positiv ist.

Formeln zum Suchen von Kantenrate in CMOS-Design und Anwendungen

fxEdge-Ratege

CMOS-Design und Anwendungen-Formeln, die Kantenrate verwenden

fxAbfallzeitge

fxAufstiegszeitge

Liste der Variablen in CMOS-Design und Anwendungen-Formeln

fx Aufstiegszeit ge

fx Abfallzeit ge

FAQ

Was ist der Kantenrate?

Die Flankengeschwindigkeit ist definiert als das Verhältnis der Anstiegszeit zur Abfallzeit. Kantenrate wird normalerweise mit Nanosekunde für Zeit gemessen. Beachten Sie, dass der Wert von Kantenrate immer positiv ist.

Kann Kantenrate negativ sein?

NEIN, der in Zeit gemessene Kantenrate kann kann nicht negativ sein.

Welche Einheit wird zum Messen von Kantenrate verwendet?

Kantenrate wird normalerweise mit Nanosekunde[ns] für Zeit gemessen. Zweite[ns], Millisekunde[ns], Mikrosekunde[ns] sind die wenigen anderen Einheiten, in denen Kantenrate gemessen werden kann.

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