Blendenzeit für fallenden Eingang in CMOS-Design und Anwendungen Formeln

Die Aperturzeit für fallenden Eingang ist als die Zeit während des Eingangs definiert, in der die Logik auf 0 oder einen niedrigen Ausgang fällt. Und wird durch t_af gekennzeichnet. Blendenzeit für fallenden Eingang wird normalerweise mit Nanosekunde für Zeit gemessen. Beachten Sie, dass der Wert von Blendenzeit für fallenden Eingang immer positiv ist.

Formeln zum Suchen von Blendenzeit für fallenden Eingang in CMOS-Design und Anwendungen

fxBlendenzeit für fallenden Eingangge

CMOS-Design und Anwendungen-Formeln, die Blendenzeit für fallenden Eingang verwenden

fxRüstzeit bei niedriger Logikge

fxHaltezeit bei hoher Logikge

Liste der Variablen in CMOS-Design und Anwendungen-Formeln

fx Einrichtungszeit bei niedriger Logik ge

fx Haltezeit bei hoher Logik ge

FAQ

Was ist der Blendenzeit für fallenden Eingang?

Die Aperturzeit für fallenden Eingang ist als die Zeit während des Eingangs definiert, in der die Logik auf 0 oder einen niedrigen Ausgang fällt. Blendenzeit für fallenden Eingang wird normalerweise mit Nanosekunde für Zeit gemessen. Beachten Sie, dass der Wert von Blendenzeit für fallenden Eingang immer positiv ist.

Kann Blendenzeit für fallenden Eingang negativ sein?

NEIN, der in Zeit gemessene Blendenzeit für fallenden Eingang kann kann nicht negativ sein.

Welche Einheit wird zum Messen von Blendenzeit für fallenden Eingang verwendet?

Blendenzeit für fallenden Eingang wird normalerweise mit Nanosekunde[ns] für Zeit gemessen. Zweite[ns], Millisekunde[ns], Mikrosekunde[ns] sind die wenigen anderen Einheiten, in denen Blendenzeit für fallenden Eingang gemessen werden kann.

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